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在电源转换技术领域,氮化镓(GaN)技术凭借其卓越的性能正逐渐成为行业的焦点。EPC9004C开发板作为一款专注于GaN场效应晶体管(FET)评估的工具,为电子工程师提供了一个便捷、高效的平台。本文将详细介绍EPC9004C开发板的特点、性能参数、使用方法以及相关注意事项,帮助工程师们快速上手。
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EPC9004C是一款半桥开发板,板载栅极驱动器,采用了额定电压为200 V的EPC2012C GaN FET。其设计目的在于简化EPC2012C的评估过程,将所有关键组件集成在一块电路板上,方便连接到大多数现有的转换器拓扑中。
开发板尺寸为2英寸×2英寸,采用半桥配置,包含两个EPC2012C GaN FET,并配备了安森美(On-Semi)的NCP51820栅极驱动器。此外,开发板还包含所有关键组件,其布局支持最佳开关性能,同时设有多个探测点,便于进行简单的波形测量和效率计算。
| 符号 | 参数 | 条件 | 最小值 | 标称值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| VDD | 栅极驱动输入电源范围 | 10 | 12 | V | ||
| VIN | 总线输入电压范围 (1) | 160 | V | |||
| IOUT | 开关节点输出电流 (2) | 2 | A | |||
| VPWM | PWM逻辑输入电压阈值 (3) | 输入‘高’ | 3.5 | 5.5 | V | |
| 输入‘低’ | 0 | 1.5 | V | |||
| VEN | 使能逻辑输入电压阈值 (3) | 输入‘高’ | 3.5 | 5.5 | V | |
| 输入‘低’ | 0 | 1.5 | V | |||
| PWM‘高’状态输入脉冲宽度 | VPWM 上升和下降时间 < 10ns | 50 | ns | |||
| PWM‘低’状态输入脉冲宽度 (4) | VPWM 上升和下降时间 < 10ns | 200 | ns |
需要注意的是:
开发板上有两个PWM信号输入端口PWM1和PWM2。在双输入模式下,两个端口均作为输入,PWM1连接到上FET,PWM2连接到下FET;在单输入模式下,PWM1输入端口作为输入,电路将为FET生成所需的互补PWM信号。输入模式通过选择J630(模式选择)的适当跳线位置来设置。
死区时间定义为一个FET关断到另一个FET导通之间的时间,对于该开发板,死区时间参考栅极驱动器的输入。可以通过调整电阻R620和R625来设置死区时间,所需电阻值可从图4中的图表读取。建议最小死区时间为5 ns,最大为15 ns。
极性变换器和死区时间电路可以通过J640(旁路)的跳线设置进行旁路,有三种旁路选项:无旁路、死区时间旁路和全旁路。不同旁路模式下,开发板的工作方式有所不同,使用旁路模式时,需要提供包含死区时间和极性的正确PWM信号。
开发板提供了一个使能输入,可以用于关闭两个FET,无论工作模式如何。使能功能有三种配置方式:使用短路跳线或开关、使用晶体管作为开关、使用电压源驱动使能功能。具体操作和注意事项请参考NCP51820的数据手册。
可以选择单PWM输入或双PWM输入模式,通过设置J630(模式)的跳线来选择。在单输入降压模式下,旁路跳线J640必须设置为无旁路模式;在双输入降压模式下,旁路跳线J640可以配置为任何有效设置。操作步骤包括连接输入电源、开关节点、栅极驱动电源、PWM控制信号等,启动时要确保初始输入电源电压为0 V,缓慢增加电压,并观察开关节点的开关操作。
同样可以选择单PWM输入或双PWM输入模式,通过设置J630(模式)的跳线来选择。需要注意的是,切勿在无负载的情况下运行升压转换器模式,以免输出电压超过最大额定值。操作步骤与降压转换器类似,但连接方式有所不同,例如输入电源连接到VOUT,输出电压连接到负载等。
在测量包含高频内容的开关节点电压时,需要采取措施进行准确的高速测量。开发板提供了可选的双引脚插头(J33)和MMCX连接器(J32)用于开关节点测量,推荐使用差分探头测量高端自举电压。对于普通无源电压探头,可以使用探头适配器。EPC网站提供了有关测量技术的相关资料,如“AN023 Accurately Measuring High Speed GaN Transistors”和“How to GaN”教育视频系列。
EPC9004C开发板具备将信号地(GND)与电源地(PGND)断开的功能,这对于在PGND路径中使用分流器的应用非常有用。可以通过移除R85来断开接地,但要注意NCP51820栅极驱动器的最大接地电压差限制为±3.5 V。
开发板配备了三个机械垫片,可以方便地安装散热器或散热片。在安装散热片之前,需要移除散热片区域下厚度超过1 mm的任何组件。散热片的设计可以使用铝或碲铜以获得更高的性能,安装时可能需要添加薄绝缘层以防止短路。EPC推荐了一些热界面材料(TIM),选择TIM时需要考虑机械顺应性、电气绝缘性和热性能等特性。
开发板的物料清单详细列出了各种组件的数量、参考编号、零件描述、制造商和零件编号等信息,同时还提供了可选组件的清单。在更换评估板上的组件时,应仅使用快速入门指南中零件清单(或物料清单)上显示的零件。
EPC9004C开发板仅用于产品评估目的,不用于商业用途,也未获得FCC批准进行转售。该开发板并非设计用于符合欧盟电磁兼容性指令或任何其他此类指令或法规,可能包含不符合RoHS标准的组件或组装材料。EPC保留随时对产品进行更改的权利,并且不承担因产品应用或使用而产生的任何责任。
总之,EPC9004C开发板为电子工程师提供了一个全面的平台,用于评估EPC2012C GaN FET的性能。通过合理设置和操作,工程师们可以更好地了解和应用GaN技术,为电源转换设计带来新的突破。你在使用EPC9004C开发板的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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