电子说
在电子工程领域,高效的功率转换一直是追求的目标。EPC9018/19开发板为我们评估EPC2015/23和EPC2001/21 eGaN®场效应晶体管(FETs)提供了便捷的途径。下面就为大家详细介绍这款开发板。
文件下载:EPC9019.pdf
EPC9018/19开发板采用半桥拓扑结构,板载栅极驱动器,集成了EPC2015/23和EPC2001/21 eGaN FETs。其目的是简化这些eGaN FET的评估过程,将所有关键组件集成在一块板子上,方便连接到任何现有的转换器中。
开发板尺寸为2” x 1.5”,使用德州仪器LM5113栅极驱动器、电源和旁路电容,采用半桥配置包含两个eGaN FET。板子包含了所有关键组件和布局,以实现最佳开关性能,还设有各种探测点,便于进行简单的波形测量和效率计算。
| Symbol | Parameter | Conditions | Min | Max | Units |
|---|---|---|---|---|---|
| V DD | Gate Drive Input Supply Range | 7 | 12 | V | |
| V IN | Bus Input Voltage Range | When using 30 V devices, EPC9018 | 24* | V | |
| When using 80 V devices, EPC9019 | 64* | V | |||
| V OUT | Switch Node Output Voltage | When using 30 V devices, EPC9018 | 30 | V | |
| When using 80 V devices, EPC9019 | 80 | V | |||
| I OUT | Switch Node Output Current | When using 30 V devices, EPC9018 | 35* | A | |
| When using 80 V devices, EPC9019 | 20* | A | |||
| V PWM | PWM Logic Input Voltage Threshold | Input ‘Low’ | 3.5 | 6 | V |
| Input ‘High’ | 0 | 1.5 | V | ||
| Minimum “High” State Input Pulse Width | V PWM rise and fall time < 10ns | 50 | ns | ||
| Minimum “Low” State Input Pulse Width | V PWM rise and fall time < 10ns | 100 # | ns |
需要注意的是,带*的参数假设为电感负载,最大电流取决于管芯温度,实际最大电流会受到开关频率、母线电压和热冷却的影响。带#的参数受高端自举电源电压“刷新”所需时间的限制。
在测量高频内容的开关节点(OUT)时,必须注意避免使用长接地线。通过将示波器探头尖端穿过开关节点上的大过孔(为此目的设计)来测量开关节点(OUT),并直接在提供的GND端子上接地探头。
EPC9018/19开发板展示了EPC2015/23和EPC2001/21 eGaN FETs,虽然其电气性能优于传统Si器件,但相对较小的尺寸增加了热管理要求。这些开发板适用于低环境温度和对流冷却的台式评估。添加散热片和强制风冷可以显著提高这些器件的电流额定值,但必须注意不要超过管芯的绝对最大温度150°C。需要注意的是,EPC9018/19开发板板上没有任何电流或热保护。
开发板的物料清单涵盖了各种电容、二极管、连接器、电阻、测试点、集成电路等组件。不同的开发板(EPC9018和EPC9019)在部分组件上有所差异,如电容和eGaN FET的型号不同。具体的物料清单可参考文档中的表格。
EPC9018/19开发板为电子工程师提供了一个方便的平台来评估EPC eGaN FETs的性能。在使用过程中,我们需要注意其性能参数、启动步骤、热管理等方面的问题。大家在实际应用中是否遇到过类似开发板的热管理难题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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