2026 RISC-V分别于5月12日、14日在北京、上海两地圆满落幕,在本次活动中,西门子EDA 客户技术经理李一凡对Tessent UltraSight-V:面向 RISC-V 系统的片上调试与追踪解决方案进行了深度分析及讨论。
现在基于 RISC-V 的高性能计算、生成式 AI、Chiplet设计越来越普及,芯片与软件的复杂度飞速提升,不仅使得调试和优化软件所花费的时间与成本急剧上升,而且很多传统的调试手段也不再适应,需要一种更高效全面的调试和跟踪方式。
Tessent UltraSight-V作为一种由嵌入式IP和软件组成的端到端解决方案,包含预验证 IP、高效压缩追踪,灵活的接口选择,完整软件栈以及配套的UVM验证环境。开箱即用,帮用户大幅缩短验证时间、加快产品上市。
同时,该方案采用模块化架构,从小型单核 SoC,到大型多核、甚至Multi-Die的设计,都能平滑扩展,支持全系统可视化、全系统可调试。
西门子EDA旨在提供全面的RISC-V解决方案,帮助客户构建、优化、验证和调试基于RISC-V的设计,助力SoC架构师和设计师实现RISC-V的潜力,创造出满足当今快速演变的市场需求的产品。
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