【“芯”篇章】中星联华走进高校系列-清华大学站，2场7小时，高强度百人研讨“马拉松”

前言
 

2026年5月25日、26日，中星联华科技（北京）股份有限公司「芯篇章·走进高校」系列技术大讲堂于清华大学集成电路学院举行。本次活动以高密度、强互动的形式，围绕芯片测试与高速信号完整性等产业核心议题，展开了为期两场、每场超三小时的深度交流，线上线下参与师生超百人。

 

 

当前，我国高精尖科技产业（人工智能、智能汽车、商业航天、6G等）发展进程持续加速，芯片测试能力建设已成为各产业链条中的关键环节。在此背景下，中星联华作为始终走在产业测试一线的知名电子测量仪器品牌，于2025年开始打造「走进高校」系列技术交流活动，以工程经验分享和技术交流为核心，致力于为高校师生搭建接触产业一线的常态化平台。

 

过去，中星联华已携手多所国内知名重点高校举办超过15场专题讲座，反响十分热烈。这一站，我们来到了清华大学集成电路学院。

 

本次走进清华大学活动由中星联华技术支持总监苏水金担任主讲，面向清华大学集成电路专业师生开展了系统的技术授课，从原理，实际应用、技术发展趋势到测试案例详解与现场实测演示。深度解析了ADC/DAC/PLL/SerDes技术、信号完整性分析等领域的真实工程经验，结合高校在基础研究、前沿探索上的科研优势，助力芯片测试与设计领域高素质专业人才的培养，推动高校与产业产学研用各方深度融合。

 

理论结合实践，拓宽实战视野
 

活动现场，中星联华技术支持总监苏水金以其丰富的行业一线经验与扎实的专业素养,以ADC/DAC/PLL/SerDes芯片、高速信号完整性为主题为大家进行深度讲解。

 

 

5月25日，交流主题为《深入浅出ADC/DAC/PLL/SerDes》，苏水金先生首先系统梳理了当前主流ADC/DAC芯片的发展现状、应用场景、国内外的技术对比，重点讲解了动态测试（SNR、SINAD、SFDR、THD、ENOB）与静态测试（INL、DNL）的测试原理与方法，并结合实际通信场景介绍了EVM、ACLR等关键指标的测试实践。

 

其次讲解PLL的基本工作原理，围绕鉴频鉴相器(PFD)、电荷泵(CP)、环路滤波器(LPF)、压控振荡器(VCO)和反馈分频器等基本电路展开，介绍了PLL应用场景以及PLL测试的关键参数：PLL输出频率范围、PLL输出频率精度、相噪、抖动、频率锁定时间、抖动环路带宽、杂散等以及测试案例。

 

 

 

最后SerDes是讲座中技术最深的板块，介绍了什么是SerDes、为什么要用SerDes、SerDes的内部构架、应用场景、发展趋势、国内外对比等，阐述SerDes的PMA、PCS、PMD三层，他们共同构成了物理层(PHY)的核心部分，它们之间通过紧密的合作实现了数据的高效传输和接收。同时讲解了SerDes编码、典型SerDes应用场景及相关协议，如AI数据中心SerDes、车载SerDes的共有、私有协议、以及PCIE协议等，将产业应用与基础知识点相结合，为清华师生详细介绍了当前产业发展的情况。

 

5月26日，交流主题为《高速信号完整性解析》，苏水金先生从信号完整性问题的根本来源出发，系统讲解了SI（信号完整性）、PI（电源完整性）、EMI（电磁干扰）三大问题的成因与应对思路，并围绕协议标准、抖动分析、眼图判读、CDR（时钟数据恢复）原理进行了深入阐述。系统讲解了插入损耗、回波损耗和串扰的产生原因及测试方法。在均衡技术方面，讲座涵盖了FFE、CTLE、DFE三种主流均衡方案的原理与参数设置方法，同时介绍了NRZ、PAM3、PAM4等编码技术在当前高速接口中的应用场景。最后在理论讲解基础上，现场展示了中星联华超低相噪微波信号源与高性能误码率测试仪（BERT）的测试操作流程，结合具体芯片测试案例，系统分享了测试参数设置、关键指标判定及实际工程中的经验与注意事项。

 

讲座期间，清华大学的硕士、博士、教授与中星联华讲师及技术人员互动频繁，交流活动从下午6点半持续到晚上10点，互动环节中，清华师生围绕 ADC 芯片性能、测试工具选型、SerDes芯片测试，以及如何把芯片的性能指标测的更准、更精、更可靠等踊跃提问与讨论，现场气氛热烈而专注。清华师生高涨的学术与实践讨论热情，让中星联华深切感受到了清华大学浓烈的学术氛围和钻研精神，中星联华团队也同样以专业与热情全力回应。

 

感谢清华大学集成电路学院精心组织此次技术交流活动，未来中星联华将持续推进「走进高校」系列活动，拓展校企合作边界、创新合作模式，走进更多重点高校，围绕芯片测试、高速信号完整性、卫星通信测试等方向，持续输出产业一线技术分享与实践指导，助力国产芯片测试技术突破与行业高端人才培养，为实现高水平科技自立自强贡献产业力量！