行芯科技携Signoff全流程解决方案重磅亮相2026集微大会

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5月27日至29日,2026第十届集微大会在上海张江科学会堂隆重举行。作为集微大会核心板块之一的集微半导体展,设立两大主题分区,汇聚产业链顶尖企业,全面呈现从材料、设备、设计到终端的完整技术图谱,为参展商与专业观众提供了高效的对接平台。

在本届集微半导体展上,杭州行芯科技有限公司(以下简称“行芯科技”)作为立足先进工艺、提供自研芯片签核EDA工具及解决方案的本土供应商,携全自主研发Signoff全流程解决方案重磅亮相。

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此外,在集微大会5月29日举行的“集微 EDA IP工业软件论坛”上,行芯科技带来了《τ-Aware Signoff 在3DIC LogicFolding时代的核心跃迁》的主题演讲,分析了韬定律背后的Signoff 使命,介绍了LogicFolding 中EDA面临的严峻挑战与行芯Signoff EDA的创新实践。

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直面Logic Folding挑战,行芯τ-Aware Signoff 平台来赋能。Logic Folding从2D转向3D,带来了多密度Hyper Bonding耦合、跨Die时序窗口收紧、电源供电网络资源紧张、密集供电散热等大量设计与验证难题,让EDA的PEX、EMIR、STA等分析成为芯片设计制造的核心刚需。行芯科技τ-Aware Signoff EDA平台,覆盖寄生参数提取、电迁移电压降、静态时序、热功耗仿真等关键环节,助力国产先进工艺芯片顺利流片。

未来,行芯科技将深耕自主创新,不断升级芯片Signoff全流程解决方案,以设计–制造协同赋能产业,与生态伙伴共推国产EDA行稳致远。

商务与技术对接

如您对行芯Glory Signoff平台在3DIC及先进工艺节点的应用感兴趣,欢迎与我们取得联系,预约技术交流与评估。

 

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