1GB/2GB 200 - Pin DDR2 SDRAM SODIMM 深度解析

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描述

1GB/2GB 200 - Pin DDR2 SDRAM SODIMM 深度解析

在电子设备不断升级的今天,内存模块的性能和稳定性对系统的整体表现起着至关重要的作用。本文将深入剖析 1GB 和 2GB(x64, DR)200 - Pin DDR2 SDRAM SODIMM,为电子工程师们在设计过程中提供全面的参考。

文件下载:MT16HTF12864HY-40EB3.pdf

产品概述

DDR2 SDRAM SODIMM 具有两种容量规格,分别为 1GB(MT16HTF12864HY)和 2GB(MT16HTF25664HY)。它采用 200 - pin 的小外形双列直插式内存模块(SODIMM)设计,具备快速的数据传输速率,支持 PC2 - 3200、PC2 - 4200、PC2 - 5300 或 PC2 - 6400 等多种规格。

关键特性

电气特性

  • 电压:(V{DD}=V{DDQ}=1.8V),(V_{DDSPD}=1.7 - 3.6V),采用 JEDEC 标准的 1.8V I/O(SSTL_18 兼容)。
  • 数据传输:拥有差分数据选通(DQS, DQS#)选项,采用 (4n) - bit 预取架构,支持多内部设备库进行并发操作。
  • 可编程特性:可编程的 CAS 延迟(CL)、Posted CAS 附加延迟(AL),WRITE 延迟 = READ 延迟 - 1 tCK,可编程的突发长度(BL)为 4 或 8,可调节数据输出驱动强度。
  • 刷新机制:具备 64ms、8192 周期刷新功能。
  • 其他特性:具有片上终端(ODT)、带 EEPROM 的串行存在检测(SPD)以及金边缘触点和双列设计。

工作温度与选项

选项 标记
商业温度范围((0°C ≤ T_A ≤ +70°C))
工业温度范围((-40°C ≤ T_A ≤ +85°C)) I
200 - pin DIMM(无铅封装) Y
频率/CL
2.5ns @ CL = 5(DDR2 - 800) -80E
2.5ns @ CL = 6(DDR2 - 800) -800
3ns @ CL = 5(DDR2 - 667) -667
3.75ns @ CL = 4(DDR2 - 533) -53E
5.0ns @ CL = 3(DDR2 - 400) -40E

关键时序参数

速度等级 行业命名 数据速率(MT/s) tRCD (ns) tRP (ns) tRC (ns)
-80E PC2 - 6400 800 12.5 12.5 55
-800 PC2 - 6400 800 15 15 55
-667 PC2 - 5300 667 15 15 55
-53E PC2 - 4200 533 15 15 55
-40E PC2 - 3200 400 15 15 55

寻址与参数

寻址

参数 1GB 2GB
刷新计数 8K 8K
行地址 16K A[13:0] 16K A[13:0]
设备库地址 4 BA[1:0] 8 BA[2:0]
设备配置 512Mb (64 Meg x 8) 1Gb (128 Meg x 8)
列地址 1K A[9:0] 1K A[9:0]
模块列地址 2 S#[1:0] 2 S#[1:0]

不同容量模块的参数

1GB 模块

部件编号 模块密度 配置 模块带宽 内存时钟/数据速率 时钟周期(CL - tRCD - tRP)
MT16HTF12864H(I)Y - 80E__ 1GB 128 Meg x 64 6.4 GB/s 2.5ns/800 MT/s 5 - 5 - 5
MT16HTF12864H(I)Y - 800__ 1GB 128 Meg x 64 6.4 GB/s 2.5ns/800 MT/s 6 - 6 - 6
MT16HTF12864H(I)Y - 667__ 1GB 128 Meg x 64 5.3 GB/s 3.0ns/667 MT/s 5 - 5 - 5
MT16HTF12864H(I)Y - 53E__ 1GB 128 Meg x 64 4.3 GB/s 3.75ns/533 MT/s 4 - 4 - 4
MT16HTF12864H(I)Y - 40E__ 1GB 128 Meg x 64 3.2 GB/s 5.0ns/400 MT/s 3 - 3 - 3

2GB 模块

部件编号 模块密度 配置 模块带宽 内存时钟/数据速率 时钟周期(CL - tRCD - tRP)
MT16HTF25664H(I)Y - 80E__ 2GB 256 Meg x 64 6.4 GB/s 2.5ns/800 MT/s 5 - 5 - 5
MT16HTF25664H(I)Y - 800__ 2GB 256 Meg x 64 6.4 GB/s 2.5ns/800 MT/s 6 - 6 - 6
MT16HTF25664H(I)Y - 667__ 2GB 256 Meg x 64 5.3 GB/s 3.0ns/667 MT/s 5 - 5 - 5
MT16HTF25664H(I)Y - 53E__ 2GB 256 Meg x 64 4.3 GB/s 3.75ns/533 MT/s 4 - 4 - 4
MT16HTF25664H(I)Y - 40E__ 2GB 256 Meg x 64 3.2 GB/s 5.0ns/400 MT/s 3 - 3 - 3

引脚分配与描述

引脚分配

引脚 符号 引脚 符号 引脚 符号 引脚 符号
1 V_REF 51 DQS2 101 A1 151 DQ42
3 V_SS 53 V_SS 103 V_DD 153 DQ43
5 DQ0 55 DQ18 105 A10 155 V_SS
7 DQ1 57 DQ19 107 BA0 157 DQ48
9 V_SS 59 V_SS 109 WE# 159 DQ49
11 DQS0# 61 DQ24 111 V_DD 161 V_SS
13 DQS0 63 DQ25 113 CAS# 163 NC
15 V_SS 65 V_SS 115 S1# 165 V_SS
17 DQ2 67 DM3 117 V_DD 167 DQS6#
19 DQ3 69 NC 119 ODT1 169 DQS6
21 V_SS 71 V_SS 121 V_SS 171 V_SS
23 DQ8 73 DQ26 123 DQ32 173 DQ50
25 DQ9 75 DQ27 125 DQ33 175 DQ51
27 V_SS 77 V_SS 127 V_SS 177 V_SS
29 DQS1# 79 CKE0 129 DQS4# 179 DQ56
31 DQS1 81 V_DD 131 DQS4 181 DQ57
33 V_SS 83 NC 133 V_SS 183 V_SS
35 DQ10 85 NC/BA2 135 DQ34 185 DM7
37 DQ11 87 V_DD 137 DQ35 187 V_SS
39 V_SS 89 A12 139 V_SS 189 DQ58
41 V_SS 91 A9 141 DQ40 191 DQ59
43 DQ16 93 A8 143 DQ41 193 V_SS
45 DQ17 95 V_DD 145 V_SS 195 SDA
47 V_SS 97 A5 147 DM5 197 SCL
49 DQS2# 99 A3 149 V_SS 199 V_DDSPD

引脚描述

符号 类型 描述
Ax 输入 地址输入,为 ACTIVE 命令提供行地址,为 READ/WRITE 命令提供列地址和自动预充电位(A10),在 PRECHARGE 命令中 A10 决定预充电是应用于一个库还是所有库,在 LOAD MODE 命令中提供操作码。
BAx 输入 库地址输入,定义 ACTIVE、READ、WRITE 或 PRECHARGE 命令应用的设备库,在 LOAD MODE 命令中定义加载的模式寄存器。
CKx, CK#x 输入 差分时钟输入,所有控制、命令和地址输入信号在 CK 的正边缘和 CK# 的负边缘交叉时采样。
CKEx 输入 时钟使能,启用(高电平)和禁用(低电平)DDR2 SDRAM 内部电路和时钟。
DMx 输入 数据掩码(仅 x8 设备),用于写数据的输入掩码信号,当 DM 采样为高电平时,写访问期间输入数据被掩码。
ODTx 输入 片上终端,启用(高电平)和禁用(低电平)DDR2 SDRAM 内部的终端电阻,正常操作时仅应用于 DQ、DQS、DQS#、DM 和 CB 引脚。
Par_In 输入 奇偶校验输入,用于 Ax、RAS#、CAS# 和 WE# 的奇偶校验位。
RAS#, CAS#, WE# 输入 命令输入,与 S# 一起定义输入的命令。
RESET# 输入 复位,当 RESET# 为低电平时,异步强制所有寄存器输出为低电平,可在电源启动时确保 CKE 为低电平,DQ 为高阻态。
S#x 输入 芯片选择,启用(低电平)和禁用(高电平)命令解码器。
SAx 输入 串行地址输入,用于配置 I2C 总线上 SPD EEPROM 的地址范围。
SCL 输入 SPD EEPROM 的串行时钟,用于同步 I2C 总线上与 SPD EEPROM 的通信。
CBx I/O 校验位,用于系统错误检测和纠正。
DQx I/O 数据输入/输出,双向数据总线。
DQSx, DQS#x I/O 数据选通,与 DQ 一起传输,用于在 DRAM 或控制器处捕获 DQ,读数据时输出,写数据时输入,用于源同步操作,DQ S# 仅在通过 LOAD MODE 命令启用差分数据选通模式时使用。
SDA I/O 串行数据,用于在 I2C 总线上传输地址和数据进出 SPD EEPROM。
RDQSx, RDQS#x 输出 冗余数据选通(仅 x8 设备),通过 LOAD MODE 命令启用/禁用,启用时仅在读数据时输出,写数据时忽略,禁用时变为数据掩码。
Err_Out# 输出(开漏) 奇偶校验错误输出,在命令和地址总线上发现奇偶校验错误。
V_DD /V_DDQ 电源 电源供应,1.8V ±0.1V,组件的 V_DD 和 V_DDQ 连接到模块的 V_DD。
V_DDSPD 电源 SPD EEPROM 电源供应,1.7 - 3.6V。
V_REF 电源 参考电压,V_DD /2。
V_SS 电源 接地。
NC - 未连接,这些引脚在模块上未连接。
NF - 无功能,这些引脚在模块内连接,但无功能。
NU - 未使用,这些引脚在特定模块配置/操作中未使用。
RFU - 保留供未来使用。

功能框图与一般描述

功能框图

该模块的功能框图展示了其内部结构和信号流向,有助于工程师理解其工作原理。

一般描述

DDR2 SDRAM 模块是高速的 CMOS 动态随机存取内存模块,采用内部配置的 4 或 8 库 DDR2 SDRAM 设备。DDR2 架构本质上是 (4n) - 预取架构,接口设计为在 I/O 引脚每个时钟周期传输两个数据字。模块使用两组差分信号:DQS、DQS# 用于捕获数据,CK 和 CK# 用于捕获命令、地址和控制信号,确保了信号的抗干扰能力和精确的采样点。

电气规格与操作条件

绝对最大额定值

符号 参数 最小值 最大值 单位
V_DD 任何引脚相对于 V_SS 的电压,V_DD 电源电压相对于 V_SS -1.0 2.3 V
V_IN, V_OUT -0.5 2.3 V
I_I 输入泄漏电流;任何输入 0V ≤ V_IN ≤ V_DD;V_REF 输入 0V ≤ V_IN ≤ 0.95V;(
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