蓝牙耳机充电仓ESD静电整改

本次对带显示屏的耳机充电仓产品开展 ESD 静电防护测试与整改，测试参考IEC61000-4-2标准，在温度 25℃-35℃、湿度 30%-60% 的环境下，使用 NSG 437 试验设备开展。

一、项目基础信息

样机数量：1 套

产品型号：耳机充电仓

样机数量：1 套

测试时间：2026 年 4 月 24 日

执行标准：IEC61000-4-2

测试模式：

1.不充电模式

2.充电盒充电模式

3.耳机放入充电盒充电模式

测试设备：NSG 437

测试环境：温度 25℃–35℃，湿度 30%–60%

判定等级

A 类：功能完全正常

B 类：性能下降，可自动恢复

C 类：需人工复位恢复

D 类：永久损坏

二、整改前问题与故障分析

1、故障现象（不充电模式）

· TYPEC 金属：接触放电 ±4KV → B 级

· 按键缝隙：空气放电 ±8KV → B 级

· 外壳缝隙：空气放电 ±8KV → B 级

· 故障表现：静电测试时显示屏异常亮屏，测试后可自动恢复。

2、故障根源分析

·按键检测线路（BKEY）无 ESD 防护按键测试点 BKEY 直接连接主控，静电通过按键缝隙、外壳缝隙侵入，触发 IO 口误动作，导致屏幕误亮。

·TYPEC 接口静电耦合干扰TypeC 金属外壳未做有效泄放，静电通过耦合进入主板控制电路，引发显示异常。

·信号抗干扰能力弱按键线路无滤波电容，静电脉冲易导致电平抖动，触发系统误判。

三、整改方案与原理分析

整改措施

在充电仓主板 BKEY 测试点：

·对地并联 ESD 器件：ASIM 型号 ESD3E6G0UH1

·对地并联 1uF 滤波电容

整改原理

·ESD 管快速泄放静电将按键线路上的静电浪涌快速钳位到 GND，保护主控 IO 口不受冲击。

·1uF 电容平滑滤波抑制静电引起的电压毛刺，避免按键信号误触发，杜绝屏幕异常亮屏。

·单点防护覆盖全机薄弱点BKEY 为整机静电最敏感入口，防护后可同时解决按键缝隙、外壳缝隙、TypeC耦合过来的静电干扰。

四、整改后测试结果

整改后对四种工作模式全项目复测，所有放电点均达到 A 类 标准：

不充电模式

TypeC 金属、按键缝隙、外壳缝隙 → 全部 A 级

充电盒充电模式

按键缝隙、外壳缝隙、TypeC 缝隙 → 全部 A 级

耳机放入充电仓（充电仓不充电）

TypeC 金属、按键、外壳缝隙 → 全部 A 级

耳机放入充电仓（充电仓充电）

按键、外壳、TypeC 缝隙 → 全部 A 级

五、总结

所有静电问题完全消除，整机 ESD 性能达标。

审核编辑 黄宇