电子说
在现代光电检测领域,硅光电倍增管(SiPM)因其高灵敏度、快速响应等特性,成为了众多应用的理想选择。onsemi的ArrayC系列SiPM传感器阵列,以其紧凑、可扩展的设计,为光电检测系统的设计带来了新的可能性。本文将详细介绍ArrayC系列产品的特性、结构、应用以及设计要点,帮助电子工程师更好地理解和使用这些产品。
文件下载:ARRAYC-SERIES-D.PDF
onsemi的C - 系列SMT(表面贴装技术)SiPM传感器被用于创建紧凑且可扩展的阵列。传感器安装在PCB板上,死区空间极小。ArrayC产品有多种格式可供选择,由不同尺寸的像素组成。
每个ArrayC的背面有一个或多个多路连接器,或者是BGA(球栅阵列)。这些连接方式允许访问阵列中每个像素的快速输出*和标准I/O,以及像素基板总和的公共I/O。
ArrayC系列产品适用于各种需要高灵敏度光电检测的应用,如医疗成像、粒子物理实验、激光雷达等。
这是一个评估板,可轻松访问onsemi ARRAYC - 60035 - 64P的所有信号。它具有两个Samtec 80 - 路连接器,可与阵列上的Samtec QTE - 040 - 03 - F - D - A板对板连接器配合使用。
该评估板可轻松访问onsemi ARRAYC - 60035 - 64P所有像素标准信号的总和,以及所有单个快速输出信号。
用于轻松访问onsemi ARRAYC - 30035 - 16P的信号,具有一个位于中心的Hirose 40 - 路连接器。
可轻松访问onsemi ARRAYC - 30035 - 16P所有像素标准信号的总和,以及所有单个快速输出信号。
用于轻松访问onsemi ARRAYC - 30035 - 144P的信号,由四个Samtec 80 - 路连接器组成。
在断开ArrayC PCB与配对连接器时,无论是在评估板上还是用户自己的电路板上,都要格外小心。应轻轻撬动电路板,逐步围绕电路板操作,使PCB从连接器的各个侧面稍微抬起,然后重复此过程,直到连接器彼此分离。需要注意的是,BGA ArrayC不能从其评估板上移除。
BGA封装与标准回流焊工艺(J - STD - 20)兼容,适用于大批量制造。应根据CAD文件中指定的焊盘图案安装ARRAYC - 60035 - 4P - BGA。必须将焊膏(建议使用免清洗焊膏)均匀地涂在每个焊盘上,以确保阵列的正确连接和定位。焊接后,至少等待三分钟,让组件冷却至室温后再进行进一步操作。
在评估板的未屏蔽导线上可能会拾取到电磁干扰(EMI)。建议遇到过多EMI的客户在实验室中尽量减少EMI,最好从源头解决。如果无法做到,则应使用更好的屏蔽措施。在所有情况下,SiPM传感器的测试都应在完全黑暗的环境中进行。
以ARRAYX - BOB6 - 64P为例,使用SMA1提供偏置电压,SMA2读取像素49的快速输出。通过将SMA1的内部(“I”)连接到S49引脚,将阴极连接到SMA1的外部(“O”),并将F49引脚连接到SMA2的Fin,可实现快速信号的读取。
同样以ARRAYX - BOB6 - 64P为例,使用SMA1提供偏置电压,SMA2读取像素49的标准输出。通过将SMA1的内部(“I”)通过50Ω负载电阻连接到S49引脚,将阴极连接到SMA1的外部(“O”),并将S49引脚通过10nF去耦电容连接到SMA2的内部(“I”),可实现标准信号的读取。
以ARRAYX - BOB6 - 64S为例,使用SMA1提供偏置电压,SMA2读取ARRAYC - 60035 - 64P所有像素的总和标准输出。通过将SMA1的内部(“I”)通过50Ω负载电阻连接到SM引脚,将阴极连接到SMA1的外部(“O”),并将第二个SM引脚通过10nF去耦电容连接到SMA2的内部(“I”),可实现总和信号的读取。
onsemi的ArrayC系列SiPM传感器阵列提供了紧凑、可扩展的解决方案,适用于各种光电检测应用。通过合理选择评估板和遵循设计要点,电子工程师可以充分发挥这些产品的性能,实现高效、可靠的光电检测系统。在实际应用中,你是否遇到过类似产品的使用问题?你是如何解决的呢?欢迎在评论区分享你的经验。
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !