ISL54226IRTZEVAL1Z评估板使用指南

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描述

ISL54226IRTZEVAL1Z评估板使用指南

在电子设计领域,评估板是我们工程师测试和验证芯片性能的重要工具。今天就来详细聊聊 ISL54226IRTZEVAL1Z 评估板,它主要用于评估 ISL54226 USB 开关 IC,能让我们快速、轻松地了解该芯片的各项特性。

文件下载:ISL54226IRTZEVAL1Z.pdf

评估板概述

功能用途

ISL54226IRTZEVAL1Z 评估板为评估 ISL54226 USB 开关 IC 提供了便捷的方法。ISL54226 是一款独特的 IC,要想正确使用评估板,我们需要深入了解该 IC 的工作原理。查看 ISL54226 数据手册是个不错的办法,特别是其中的真值表和引脚图,能让我们快速掌握芯片的工作方式。

外观与组件

评估板上焊接了 ISL54226 TDFN IC(位于板中央,标记为 U1),还配备了 USB 连接器、香蕉插孔和拨动开关。这些组件方便我们与 IC 进行交互,从而评估其功能、特性和性能。例如,在评估板正确供电并按图 2 配置后,我们可以通过拨动开关 S1 控制 OE/ALM 逻辑引脚,实现 USB 设备与 USB 主机(计算机)的连接和断开。

评估板特性

标准接口

评估板具备标准的 USB 连接器,方便与计算机和 USB 设备连接;还有香蕉插孔,用于电源、接地和逻辑输入/输出连接。

便捷控制

拨动开关可轻松控制 OE/ALM 逻辑引脚,同时板上设有方便的测试点和连接,便于连接测试设备。

评估板架构与布局

基本布局

  • 电源与接地:电源和接地连接位于板顶部的香蕉插孔(J1 和 J2)。
  • 逻辑输入:OE/ALM 逻辑输入连接在板左上角的香蕉插孔 J3 处,也可通过拨动开关 S1 控制,但使用开关时需安装跳线 JP2;若通过香蕉插孔 J3 控制逻辑,则不能安装 JP2 跳线。
  • 逻辑输出:INT 逻辑输出连接在板右上角的香蕉插孔 J4 处。
  • USB 连接:与上游主机控制器(计算机)的 USB 连接通过板左侧的 USB 连接器 J6 实现;与下游 USB 设备的连接则通过板右侧的 USB 连接器 J5 完成。
  • IC 位置:ISL54226 IC(U1)位于板中央,评估板上有 Pin 1 指示点,安装 IC 时需将其与 IC 的 Pin 1 指示点对齐。

IC 电源供应

通过香蕉插孔 J1(VDD)和 J2(GND)连接直流电源为 ISL54226 IC 供电。IC 正常工作需要 2.7VDC 至 5.25VDC 的电源,且电源应能提供 100µA 的电流。

逻辑控制

ISL54226 设备的状态由 OE/ALM 引脚的电压决定。我们可以通过香蕉插孔 J3(OE/ALM)或拨动开关 S1 访问该引脚。使用拨动开关控制逻辑时,需在 JP2 处安装跳线;若要通过香蕉插孔控制逻辑,则移除跳线。

OE/ALM 引脚是开漏连接,需要通过一个 100kΩ 的上拉电阻连接到 VDD 以拉高电平。微处理器可以将该引脚拉低来打开所有开关,也可以监测该引脚在芯片进入过压状态时是否变为低电平。评估板上有一个 100kΩ 的上拉电阻,通过在 JP1 处安装跳线可将其连接到 OE/ALM 引脚。

当 OE/ALM 引脚被拉低(接地)且信号电压在 0V 至 3.6V 范围内时,SPST 开关将关闭,USB 主机控制器(计算机)与 USB 设备断开连接,数据无法传输;当 OE/ALM 引脚被拉高(连接到 VDD)且信号电压在 0V 至 3.6V 范围内时,高速(HS)开关将打开,计算机与 USB 设备之间可以传输数据。

若开关主机(计算机端)的信号电压大于 3.8V(典型值)或小于 -0.45V(典型值),ISL54226 IC 将关闭开关,并将 OE/ALM 引脚内部拉低。

INT 输出

通过香蕉插孔 J4(INT)可访问 ISL54226 的 INT 引脚。在正常 USB 传输和过压保护(OVP)状态下,该引脚输出高电平;当 COM 引脚连接在一起且 OE/ALM 引脚为低电平时,芯片内部将该引脚拉低。该引脚的作用是供微处理器监测,以判断充电器是否已连接到 USB 端口。

USB 连接

评估板上有一个标记为“USB TO HOST”的 B 型 USB 插座(J6),位于板右侧,需使用标准 USB 电缆将其连接到上游 USB 主机控制器(通常是 PC 或集线器);还有一个标记为“USB TO DEVICE”的 A 型 USB 插座(J5),也在板右侧,USB 设备可直接插入该插座或通过标准 USB 电缆连接。USB 开关是双向的,允许主机(计算机)和下游 USB 设备双向收发数据。

高速开关

两个 SPST 开关是双向开关,在 VDD 电源电压为 2.7V 至 5.25V 时,能通过最高 3.6V 的信号。当使用 2.7V 电源供电时,在 0V 至 400mV 的信号范围内,开关的标称导通电阻 (r_{ON}) 为 3.5Ω,导通电阻平整度为 0.26Ω,SPST 开关之间的导通电阻匹配度仅为 0.2Ω,可确保开关对 USB 高速信号转换的影响最小。随着信号电平的增加,开关电阻也会增加,在信号电平为 3.3V 时,开关电阻标称值为 6.8Ω。

这些开关专门设计用于通过 USB 2.0 高速(480Mbps)差分信号,通常在 0V 至 400mV 范围内,具有低电容和高带宽,能以最小的边缘和相位失真通过 USB 高速信号,满足 USB 2.0 高速信号质量规范。同时,它们也能以最小的失真通过 USB 全速信号(12Mbps),满足 USB 2.0 全速信令的所有要求。

SPST 开关的正常工作信号范围为 0V 至 3.6V,正常运行时,信号电压不应超过该范围,也不应低于地电压超过 -0.3V。若出现正电压大于 3.8V(典型值)至 5.25V(如 USB 5V VBUS 电压)短路到 COM+ 和 COM - 引脚之一或两者,或负电压小于 -0.5V(典型值)至 -5V 短路到 COM 引脚之一或两者的情况,ISL54226 具有 OVP 电路,可检测过压情况并打开 SPST 开关,防止连接在信号引脚(D+ 和 D -)上的 USB 下游收发器受损。

OVP 和断电保护电路允许 COM 引脚(COM -、COM +)在 VDD 电源电压为 0V 至 5.25V 时被驱动至 5.25V。在此情况下,芯片的 (I{COMx}) 和 (I{DD}) 电流小于 100,不会对 IC 造成压力,同时 SPST 开关关闭,故障电压与开关另一侧隔离。每当芯片检测到过压情况时,OE/ALM 引脚会内部拉低,我们可以监测该引脚的低电平来判断是否发生过压情况。

评估板组件定义

评估板上各个组件及其功能如下表所示: DESIGNATOR DESCRIPTION
U1 ISL54226IRTZ IC
J6 “B” type USB Receptacle
J5 “A” type USB Receptacle
J1 VDD Positive Connection
J2 VDD Negative Connection
J3 OE/ALM Logic Control
J4 INT Logic Output
S1 OE/ALM Toggle Switch
JP4, JP5 D -/D+ Differential Probe Connection
JP1 Connects 100kΩ Pullup from OE/ALM Pin to VDD
JP2 Toggle Switch S1 (OE/ALM) Jumper
JP3 INT Output Load Jumper

使用评估板

所需设备

  • +2.7V 至 +5.25V 直流电源
  • 一个高速 USB 设备(如 USB 记忆棒、MP3 播放器等)
  • 带有 2.0 高速 USB 端口的计算机
  • 标准 USB 电缆

初始设置步骤

  1. 在 JP1 和 JP2 处安装跳线,这样可以使用 S1 开关对 OE/ALM 进行逻辑控制,并将 100kΩ 上拉电阻从 OE/ALM 连接到 VDD。
  2. 将评估板通过 J1(VDD)和 J2(GND)连接到直流电源,J1 接正极,J2 接负极,电源应能提供 2.7V 至 5.25V 的电压和 100µA 的电流,将电源电压设置为 3.3V。
  3. 将高速 USB 设备连接到 USB 连接器 J5(USB TO DEVICE),该连接器位于评估板右侧。
  4. 将拨动开关 S1 置于向下位置,将 OE/ALM 控制引脚拉低,打开 ISL54226 SPST 开关。
  5. 使用 USB 电缆将主机(PC 计算机)连接到 USB “B” 型插座 J6(USB TO HOST)。

高速操作

  1. 将拨动开关 S1 置于向上位置,向 OE/ALM 引脚施加逻辑高电平。
  2. 此时,计算机和连接在 J5 处的 USB 设备之间应能收发数据。
  3. 若要断开 USB 设备与计算机的连接,将拨动开关 S1 置于向下位置,使 OE/ALM 引脚变为低电平。

测试点

评估板上有多个测试点,方便我们连接探头进行测量,具体如下表所示: DESIGNATOR DESCRIPTION
TP1 VDD Test Point
TP2 Ground Test Point
TP3 OE /ALM Test Point
TP4 INT Test Point
TP5 VBUS Test Point
JP4 D -/D+ Differential Probe Connection - COM Side of Switch
JP5 D -/D+ Differential Probe Connection - USB Device Side of Switch

我们可以通过在 JP5 处连接差分探头,在示波器或其他测试设备上观察 USB 设备侧的 D - 和 D + 信号;通过在 JP4 处连接差分探头,观察开关 COM 侧的 D - 和 D + 信号。

注意事项

在使用该评估板和 ISL54226 芯片时,我们需要注意以下几点:

  1. 文档中关于电路、软件和其他相关信息仅用于说明半导体产品的操作和应用示例,我们要对在产品或系统设计中使用这些电路、软件和信息负责,瑞萨电子对因使用这些内容导致的损失和损害不承担任何责任。
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  11. 未经瑞萨电子书面同意,不得全部或部分重印、复制或复制本文件。

以上就是关于 ISL54226IRTZEVAL1Z 评估板的详细介绍,希望对大家的设计工作有所帮助。你在使用这款评估板的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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