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在电子设计领域,评估板是我们工程师测试和验证芯片性能的重要工具。今天就来详细聊聊 ISL54226IRTZEVAL1Z 评估板,它主要用于评估 ISL54226 USB 开关 IC,能让我们快速、轻松地了解该芯片的各项特性。
ISL54226IRTZEVAL1Z 评估板为评估 ISL54226 USB 开关 IC 提供了便捷的方法。ISL54226 是一款独特的 IC,要想正确使用评估板,我们需要深入了解该 IC 的工作原理。查看 ISL54226 数据手册是个不错的办法,特别是其中的真值表和引脚图,能让我们快速掌握芯片的工作方式。
评估板上焊接了 ISL54226 TDFN IC(位于板中央,标记为 U1),还配备了 USB 连接器、香蕉插孔和拨动开关。这些组件方便我们与 IC 进行交互,从而评估其功能、特性和性能。例如,在评估板正确供电并按图 2 配置后,我们可以通过拨动开关 S1 控制 OE/ALM 逻辑引脚,实现 USB 设备与 USB 主机(计算机)的连接和断开。
评估板具备标准的 USB 连接器,方便与计算机和 USB 设备连接;还有香蕉插孔,用于电源、接地和逻辑输入/输出连接。
拨动开关可轻松控制 OE/ALM 逻辑引脚,同时板上设有方便的测试点和连接,便于连接测试设备。
通过香蕉插孔 J1(VDD)和 J2(GND)连接直流电源为 ISL54226 IC 供电。IC 正常工作需要 2.7VDC 至 5.25VDC 的电源,且电源应能提供 100µA 的电流。
ISL54226 设备的状态由 OE/ALM 引脚的电压决定。我们可以通过香蕉插孔 J3(OE/ALM)或拨动开关 S1 访问该引脚。使用拨动开关控制逻辑时,需在 JP2 处安装跳线;若要通过香蕉插孔控制逻辑,则移除跳线。
OE/ALM 引脚是开漏连接,需要通过一个 100kΩ 的上拉电阻连接到 VDD 以拉高电平。微处理器可以将该引脚拉低来打开所有开关,也可以监测该引脚在芯片进入过压状态时是否变为低电平。评估板上有一个 100kΩ 的上拉电阻,通过在 JP1 处安装跳线可将其连接到 OE/ALM 引脚。
当 OE/ALM 引脚被拉低(接地)且信号电压在 0V 至 3.6V 范围内时,SPST 开关将关闭,USB 主机控制器(计算机)与 USB 设备断开连接,数据无法传输;当 OE/ALM 引脚被拉高(连接到 VDD)且信号电压在 0V 至 3.6V 范围内时,高速(HS)开关将打开,计算机与 USB 设备之间可以传输数据。
若开关主机(计算机端)的信号电压大于 3.8V(典型值)或小于 -0.45V(典型值),ISL54226 IC 将关闭开关,并将 OE/ALM 引脚内部拉低。
通过香蕉插孔 J4(INT)可访问 ISL54226 的 INT 引脚。在正常 USB 传输和过压保护(OVP)状态下,该引脚输出高电平;当 COM 引脚连接在一起且 OE/ALM 引脚为低电平时,芯片内部将该引脚拉低。该引脚的作用是供微处理器监测,以判断充电器是否已连接到 USB 端口。
评估板上有一个标记为“USB TO HOST”的 B 型 USB 插座(J6),位于板右侧,需使用标准 USB 电缆将其连接到上游 USB 主机控制器(通常是 PC 或集线器);还有一个标记为“USB TO DEVICE”的 A 型 USB 插座(J5),也在板右侧,USB 设备可直接插入该插座或通过标准 USB 电缆连接。USB 开关是双向的,允许主机(计算机)和下游 USB 设备双向收发数据。
两个 SPST 开关是双向开关,在 VDD 电源电压为 2.7V 至 5.25V 时,能通过最高 3.6V 的信号。当使用 2.7V 电源供电时,在 0V 至 400mV 的信号范围内,开关的标称导通电阻 (r_{ON}) 为 3.5Ω,导通电阻平整度为 0.26Ω,SPST 开关之间的导通电阻匹配度仅为 0.2Ω,可确保开关对 USB 高速信号转换的影响最小。随着信号电平的增加,开关电阻也会增加,在信号电平为 3.3V 时,开关电阻标称值为 6.8Ω。
这些开关专门设计用于通过 USB 2.0 高速(480Mbps)差分信号,通常在 0V 至 400mV 范围内,具有低电容和高带宽,能以最小的边缘和相位失真通过 USB 高速信号,满足 USB 2.0 高速信号质量规范。同时,它们也能以最小的失真通过 USB 全速信号(12Mbps),满足 USB 2.0 全速信令的所有要求。
SPST 开关的正常工作信号范围为 0V 至 3.6V,正常运行时,信号电压不应超过该范围,也不应低于地电压超过 -0.3V。若出现正电压大于 3.8V(典型值)至 5.25V(如 USB 5V VBUS 电压)短路到 COM+ 和 COM - 引脚之一或两者,或负电压小于 -0.5V(典型值)至 -5V 短路到 COM 引脚之一或两者的情况,ISL54226 具有 OVP 电路,可检测过压情况并打开 SPST 开关,防止连接在信号引脚(D+ 和 D -)上的 USB 下游收发器受损。
OVP 和断电保护电路允许 COM 引脚(COM -、COM +)在 VDD 电源电压为 0V 至 5.25V 时被驱动至 5.25V。在此情况下,芯片的 (I{COMx}) 和 (I{DD}) 电流小于 100,不会对 IC 造成压力,同时 SPST 开关关闭,故障电压与开关另一侧隔离。每当芯片检测到过压情况时,OE/ALM 引脚会内部拉低,我们可以监测该引脚的低电平来判断是否发生过压情况。
| 评估板上各个组件及其功能如下表所示: | DESIGNATOR | DESCRIPTION |
|---|---|---|
| U1 | ISL54226IRTZ IC | |
| J6 | “B” type USB Receptacle | |
| J5 | “A” type USB Receptacle | |
| J1 | VDD Positive Connection | |
| J2 | VDD Negative Connection | |
| J3 | OE/ALM Logic Control | |
| J4 | INT Logic Output | |
| S1 | OE/ALM Toggle Switch | |
| JP4, JP5 | D -/D+ Differential Probe Connection | |
| JP1 | Connects 100kΩ Pullup from OE/ALM Pin to VDD | |
| JP2 | Toggle Switch S1 (OE/ALM) Jumper | |
| JP3 | INT Output Load Jumper |
| 评估板上有多个测试点,方便我们连接探头进行测量,具体如下表所示: | DESIGNATOR | DESCRIPTION |
|---|---|---|
| TP1 | VDD Test Point | |
| TP2 | Ground Test Point | |
| TP3 | OE /ALM Test Point | |
| TP4 | INT Test Point | |
| TP5 | VBUS Test Point | |
| JP4 | D -/D+ Differential Probe Connection - COM Side of Switch | |
| JP5 | D -/D+ Differential Probe Connection - USB Device Side of Switch |
我们可以通过在 JP5 处连接差分探头,在示波器或其他测试设备上观察 USB 设备侧的 D - 和 D + 信号;通过在 JP4 处连接差分探头,观察开关 COM 侧的 D - 和 D + 信号。
在使用该评估板和 ISL54226 芯片时,我们需要注意以下几点:
以上就是关于 ISL54226IRTZEVAL1Z 评估板的详细介绍,希望对大家的设计工作有所帮助。你在使用这款评估板的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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