电子说
在电子设计领域,电源分配控制是一个至关重要的环节。今天,我们就来详细探讨一下 RENESAS 的 ISL6115A 12V 电源分配控制器,看看它在实际应用中能为我们带来哪些优势。
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ISL6115A 是一款功能全面的热插拔电源控制器,专为 +12V 应用而设计。与它的姊妹产品 ISL6115 相比,集成了电荷泵的 ISL6115A 具有更高的栅极驱动电压(6.5V 对比 5V),这使得它在效率方面有了显著提升,成为了理想的替代方案。
这款 IC 具备可编程过流(OC)检测、带延时锁存关断的电流调节(CR)以及软启动等功能。电流调节水平由两个外部电阻设定,其中 (R{ISET}) 用于设置 CR 的阈值电压 (V{th}),另一个是低阻值的检测电阻,CR 的 (V{th}) 就在该电阻上产生。CR 的持续时间则由 CTIM 引脚上的外部电容决定,当达到 CR 的 (V{th}) 水平时,该电容会以 20µA 的电流充电,随后 IC 会迅速拉低 GATE 输出,锁存关断通态 FET。
ISL6115A 能够实现 +12V 电源的热插拔功能,为系统的维护和升级提供了极大的便利。
具备过流故障隔离能力,当检测到过流情况时,能够迅速切断电源,保护系统免受损坏。
通过外部电阻可以灵活设置电流调节水平,满足不同应用场景的需求。
可以根据实际情况调整电流调节锁存关断的时间,增强系统的稳定性。
具有较宽的共模输入电压范围,提高了系统的适应性。
内部电荷泵能够将 N 沟道 MOSFET 的栅极驱动到比 IC 偏置电压高 6.5V 的水平,确保 MOSFET 能够可靠导通。
提供欠压和过流锁存指示功能,方便工程师及时了解系统的工作状态。
可以调节开启斜坡,实现软启动功能,减少电源开启时的冲击电流。
在电源开启过程中提供保护,避免因瞬间电流过大对系统造成损害。
两级过流检测机制能够快速响应不同的故障情况,提高系统的安全性。
对死短路的响应时间仅为 1µs,能够迅速切断电源,保护系统安全。
符合 RoHS 标准,环保无污染。
可用于各种电源分配系统,确保电源的稳定供应。
适用于需要热插拔功能的组件和电路,提高系统的可维护性。
| 引脚编号 | 符号 | 功能描述 |
|---|---|---|
| 1 | ISET | 电流设置,通过限流设置电阻连接到电流检测电阻的低端,作为电流限制编程引脚。 |
| 2 | ISEN | 电流检测,连接到检测电阻的正极,用于测量电阻上的电压降。 |
| 3 | GATE | 外部 FET 栅极驱动引脚,连接到外部 N 沟道 MOSFET 的栅极,该引脚到地的电容用于设置开启斜坡。 |
| 4 | VSS | 芯片返回端。 |
| 5 | VDD | 芯片电源,提供 12V 芯片电源,可以直接连接到为开关负载供电的 +12V 电源轨,也可以连接到专用的 VSS +12V 电源。 |
| 6 | CTIM | 电流限制定时电容引脚,连接一个电容到地,该电容决定过流事件与芯片输出关断之间的时间延迟(电流限制超时时间)。 |
| 7 | PGOOD | 电源良好指示,指示 ISEN 引脚上的电压是否正常,由一个开漏 N 沟道 MOSFET 驱动,当输出电压(VISEN)低于特定 IC 的欠压水平时,该引脚被拉低。 |
| 8 | PWRON | 电源开启,用于控制和复位芯片,当该引脚被驱动到最高 5V 或悬空时,芯片被启用;在电流限制超时后,通过向该引脚施加低电平信号可以复位芯片。 |
在 (T_{A}= +25^{circ}C) 的条件下,VDD 的范围为 -0.3V 到 +16V,GATE 的范围为 -0.3V 到 VDD + 8V,ISEN、PGOOD、PWRON、CTIM、ISET 的范围为 -0.3V 到 VDD + 0.3V。
8 引脚 SOIC 封装的热阻典型值为 98°C/W,塑料封装的最大结温为 +150°C,最大存储温度范围为 -65°C 到 +150°C。
VDD 电源电压范围为 +12V ±15%,温度范围为 -40°C 到 +85°C,人体模型 ESD 为 2.5kV,机器模型 ESD 为 250V。
涵盖了电流控制、栅极驱动、偏置、电流调节持续时间/电源良好等多个方面的参数,如 ISET 电流源、电流限制放大器偏移电压、GATE 响应时间、GATE 开启电流、欠压阈值等。
上电时,IC 可以通过关断外部 N 沟道 MOSFET 开关将电源与负载隔离,也可以直接将电源轨电压施加到负载上,实现真正的热插拔功能。PWRON 引脚拉低时,IC 会关断外部 N 沟道 MOSFET,隔离电源与负载;PWRON 引脚拉高或悬空时,IC 处于热插拔模式。无论哪种情况,IC 都会以软启动模式开启,保护电源轨免受突然的浪涌电流冲击。
开启时,外部 N 沟道 MOSFET 的栅极电容由一个 11µA 的电流源充电,实现可编程的斜坡(软启动开启)。内部电荷泵为 12V 电源开关提供栅极驱动,将栅极电压驱动到约 VDD + 6.5V。负载电流通过外部电流检测电阻,当检测电阻上的电压超过用户编程的 CR 电压阈值时,控制器进入电流调节模式。
此时,CTIM 引脚上的超时电容由一个 20µA 的电流源充电,控制器进入电流限制锁存关断周期。电流限制锁存关断的持续时间由连接在 CTIM 引脚到地的单个外部电容的值决定。如果过流事件结束,N 沟道 MOSFET 会完全导通,CTIM 电容放电;如果超时周期结束,CTIM 电容充电到约 1.8V,内部锁存器置位,FET 栅极迅速拉低到 0V,关断 N 沟道 MOSFET 开关,隔离故障负载。
当检测到严重过流负载(检测电阻上的电压超过 OC Vth 设置点 150mV)时,IC 会在约 10µs 内将 N 沟道 MOSFET 的栅极驱动到 0V,然后缓慢升高栅极电压,将 N 沟道 MOSFET 开启到编程的电流调节水平,开始超时周期。
出现欠压情况时,PGOOD 信号通过电阻连接到逻辑或 VDD 电源时会被拉低,作为欠压故障指示;对于过流锁存关断指示,可以监测 CTIM 引脚,超时周期结束后,该引脚会从 1.8V 迅速上升到 VDD。
当 CR Vth 设置极低(25mV 或更低)时,需要考虑两方面的风险。一是噪声可能会影响绝对 CR Vth 值,可以通过在 RSENSE 电阻两端并联一个 100pF 的电容来解决;二是由于过流比较器的共模限制,ISET 引脚上的电压必须比 IC 地高 20mV,否则 IC 可能在启动时误报过流故障。高负载电容且初始负载电流较低的电路容易出现这种意外情况。
不要将 PWRON 输入信号拉高到超过 5V,超过 6V 会导致内部电荷泵故障。
在软启动和电流限制模式的超时延迟期间,外部 N 沟道 MOSFET 的 (V{GS}) 会降低,使 MOSFET 开关进入线性区域,导致 (r{DS}(ON)) 增大。需要在 CR 限制和时序要求之间取得平衡,避免因内部功耗过大而损坏或破坏外部 N 沟道 MOSFET。可以参考 MOSFET 制造商数据手册中的 SOA 信息。
驱动特别大的电容负载时,较长的软启动时间可以防止充电时的电流调节,较短的 CR 时间可能是提高可靠性和 FET MTF 的最佳应用解决方案。
RSENSE 电阻的物理布局非常关键,应尽量使 RSENSE 电阻与 IC 之间的走线直接且短,确保检测线中没有电流,以避免出现误报过流的情况。
ISL6115AEVAL1Z 评估板默认作为 +12V 高端开关控制器,CR 水平设置在约 2.5A。通过 J1 可以选择偏置电压,PWRON 引脚内部拉高,除非通过 PWRON 测试点或 J2 拉低。通过改变 RSENSE 和/或 ISET 电阻的值,可以重新配置评估板以实现更高的 CR 水平。
ISL6115A 以其丰富的功能、灵活的可编程性和良好的性能,为 12V 电源分配控制提供了一个优秀的解决方案。在实际应用中,只要我们充分了解其特性和注意事项,就能充分发挥它的优势,设计出更加稳定可靠的电源系统。大家在使用过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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