泰克科技邀您相约2026 PCIe 6.0/7.0测试技术研讨会

PCIe 6.0/7.0测试技术研讨会

2026年7月底，PCI-SIG将在Workshop上正式开启PCIe 6.0一致性测试认证。面对从NRZ到PAM4、从发送端到接收端、从物理层测试到协议级系统调试的全面升级，PCIe Gen6/Gen7 的设计与验证正迎来更高带宽、更复杂链路和更严苛合规要求的多重挑战。

如果您正在关注PCIe 6.0认证进展，或仍对Gen6/Gen7的Tx/Rx测试、接收端校准、协议分析、电源完整性与系统级调试存在疑问，欢迎参加泰克上海Open Day。来自泰克、安立、VIAVI的技术专家将围绕PCIe 6.0/7.0最新技术趋势、测试挑战与实测方案展开深度分享，并通过现场Demo展示从标准理解到测试落地的完整路径，帮助工程师更高效应对下一代高速互连设计验证挑战。

会议日程安排

时间：2026年6月26日（周五）9:30

地点：泰克科技（中国）有限公司

上海市闵行区顾戴路2337号维璟中心C座6楼

演讲嘉宾

余洋

泰克技术经理

张昊

安立公司高级工程师

Aveas

VIAVI资深技术专家

Aveas

泰克资深测试专家

活动日程

9:30 - 9:45

签到 / 客户入场

9:45 - 10:00

开场&泰克上海新办公室介绍

10:00 - 10:30

PCIe标准的演进及Gen6/7的发送端测试挑战

随着PCIe技术从Gen5迈向Gen6/Gen7，链路速率、调制方式和合规测试要求都发生了显著变化。特别是在PAM4信号引入后，发送端测试不再只是关注传统眼图和抖动指标，还需要综合评估线性度、噪声、均衡、SNDR等关键参数。本环节将从PCIe标准演进出发，解析Gen6/Gen7发送端测试中的核心变化与典型挑战，帮助工程师提前理解下一代高速互连设计验证的关键关注点。

10:30 - 11:00

从NRZ到PAM4，测试Gen6 Rx你需要知道这些知识

PCIe Gen6采用PAM4信号后，接收端测试的复杂度大幅提升。相比NRZ，PAM4对噪声、抖动、均衡和误码性能更加敏感，也对校准方法和测试流程提出了更高要求。本环节将围绕Gen6 Rx测试中的基础概念、关键步骤和常见难点展开，帮助工程师理解接收端测试背后的技术逻辑，并为后续Rx校准与实测演示建立清晰认知。

11:00 - 11:15

Break

11:15 - 11:45

如何测试和分析PCIe协议，解决复杂的PCIe系统级问题

PCIe问题往往不只发生在物理层。协议交互、链路训练、错误恢复和系统兼容性同样会影响产品验证进度。本环节将聚焦PCIe协议测试与分析方法，介绍如何通过协议级工具定位复杂系统问题，帮助工程师从“看到错误”进一步走向“理解错误、定位根因、缩短调试周期”。

11:45 - 12:15

AI浪潮下的芯片电源纹波和噪声测试

AI芯片和高速互连系统对电源完整性的要求持续提升，电源纹波、瞬态噪声和环路稳定性都可能直接影响高速信号链路的可靠性。本环节将结合AI应用背景，解析芯片供电系统中的纹波与噪声测试挑战，并介绍如何借助高精度测量方案更准确地评估电源质量，为高速接口和核心芯片稳定运行提供保障。

12:15 - 13:15

Lunch&Break

13:15 - 13:45

PCIe Gen6 Tx实测展示

13:45 - 14:15

PCIe Gen6 Rx校准和实测展示

14:15 - 14:45

PCIe Gen6 Protocol系统调试演示

14:45 - 15:15

电源纹波测试和环路响应测试演示

15:15 - 15:30

Q&A / 自由交流 / Office参观