描述
BLVDS16EVK评估板:DS92LV16 SERDES接口设备的实用指南
在电子设计领域,评估板是验证和测试新设备性能的重要工具。今天,我们就来深入了解一下National Semiconductor的BLVDS16EVK评估板,它主要用于演示DS92LV16 BLVDS串行器/解串器(SERDES)接口设备。
文件下载:BLVDS16EVK.pdf
一、评估板简介
1.1 功能验证
该评估板主要验证以下几个方面:
- 串行器模块:将16位并行总线数据序列化为带有嵌入式时钟的串行流。
- 解串器模块:将串行数据流反序列化为带有相关时钟的16位并行总线数据。
- BLVDS驱动器:通过短Z-pack电缆的线路驱动能力。
1.2 工作原理
串行器接收来自数据源的最多十六个3V LVTTL/LVCMOS数据信号以及时钟信号(TCLK),然后将并行信号转换为单个串行化的BLVDS数据流。解串器则恢复BLVDS串行数据流,并将其转换回并行的3V LVTTL/LVCMOS数据和时钟输出信号。需要注意的是,DS92LV16的串行器模块和解串器模块可以相互独立工作,并且该设备还包含几种测试模式。
二、套件内容与特性
2.1 套件内容
- 一块演示板(BLVDS16PCB)
- 一根1米长的AMP 2mm Hard Metric Z-pack电缆
- BLVDS16EVK用户手册
- DS92LV16数据手册
2.2 评估板特性
- 核心器件:采用National Semiconductor的BLVDS DS92LV16串行器/解串器。
- 时钟源:可选板载50MHz振荡器时钟源。
- 状态指示:板载LED用于LOCK*指示灯。
- 配置引脚:提供用于电源控制、SYNC模式选择、线路和本地环回测试模式启用以及输出禁用控制的配置引脚。
三、评估板概述
3.1 端口设置
BLVDS16EVK SERDES演示板具有独立的16位并行输入和输出端口。J1和J2构成输入引脚,包含接地的50Ω终端;J3和J4构成输出引脚;J5提供对所有控制输入信号引脚和LOCK*引脚的访问。需要注意的是,J1 - J5的奇数引脚接地。
3.2 信号功能与引脚对应关系
| 具体的信号功能与连接器/引脚编号的对应关系如下表所示: |
Signal Function |
Connector |
Pin number |
Type |
| DIN0 |
J1 |
2 |
Data Input |
| DIN1 |
J1 |
4 |
Data Input |
| … |
… |
… |
… |
| ROUT15 |
J4 |
12 |
Data Output |
| RCLK |
J4 |
14 |
Deserializer Clock Output |
| … |
… |
… |
… |
四、功能模块详解
4.1 串行器模块
- 数据输入:接收最多十六个LVTTL/LVCMOS(3V)数据信号和时钟信号(TCLK),并将其序列化为BLVDS数据流。在80MHz的TCLK频率下,线路速率为1.44 Gbps,有效负载数据速率为1.28 Gbps。
- 引脚说明:DIN0 - DIN9为J1的2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16, 18, 20引脚;DIN10 - DIN15为J2的2, 4, 6, 8, 10, 12引脚;TCLK为J2的14引脚。部分测试设备可能需要在这些引脚使用50Ω终端,板上已包含相应的终端电阻。
- 控制信号:TPWDN*、DEN和SYNC等引脚用于控制串行器的电源、输出和同步功能。
4.2 解串器模块
- 数据恢复:将BLVDS数据流恢复为LVTTL/LVCMOS并行数据和时钟。在同步过程中,解串器的PLL使用参考时钟(REFCLK)作为频率参考来锁定传入的BLVDS数据流。
- 引脚说明:ROUT0 - ROUT9为J3的2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16, 18, 20引脚;ROUT10 - ROUT15为J4的2, 4, 6, 8, 10, 12引脚;RCLK为J4的14引脚。若直接连接到示波器的50Ω输入,可能需要安装450Ω串联电阻。
- 参考时钟:REFCLK输入用于解串器PLL的频率参考,用户可以选择板载50MHz振荡器或外部时钟源。
- 控制信号:RPWDN、REN和LOCK等引脚用于控制解串器的电源、输出和锁定状态指示。
五、电源连接与测试选项
5.1 电源连接
电源和接地必须通过电源端子J18和J19连接。J18接地,J19应施加3.3V +/-4.5%的电压。
5.2 测试选项
DS92LV16包含两种测试模式:本地环回模式(LOCAL Loopback mode)和线路环回模式(LINE Loopback mode)。LOCAL_LE和LINE_LE引脚分别用于控制这两种测试模式。
六、评估板设置与测试
6.1 快速检查
- 给电源端子J19施加3.3V +/-4.5%的电压,给J18接地。
- 将AMP 2mm Z-pack电缆的一端连接到板上2mm Hard Metric Header(P1B)的第一行,另一端连接到同一板上P1B的第二行。
- 将板上的TPWDN(J6)、RPWDN(J7)、DEN(J8)、REN(J9)、CONFIG1(J10)、CONFIG2(J11)、SYNC(J12)和LOCK* LED CONTROL(J14)等引脚拉高。
- 从时钟源向TCLK(J2的14引脚)施加50MHz、LVTTL/LVCMOS(3V)的时钟信号。
- 将REFCLK CONTROL(J15)连接到OSC,并确保跳线J63打开。
- 监测LOCK* INDICATOR LED(D1)的状态。如果LED不亮,则说明评估板功能正常,串行器和解串器已同步。
6.2 外部环回数据传输设置
- 同样进行电源连接。
- 连接Z-pack电缆。
- 闭合TPWDN(J6)、RPWDN(J7)、DEN(J8)、REN(J9)、CONFIG1(J12)、CONFIG2(J13)和LOCK* LED CONTROL(J14)等引脚。
- 向TCLK(J2的14引脚)施加LVTTL/LVCMOS(3V)的时钟信号,信号频率应在25 - 80 MHz之间。
- 向板上的两个DIN信号连接器(J1, J2)施加LVTTL/LVCMOS(3V)的数据信号。
- 将REFCLK CONTROL(J15)连接到SMA。
- 通过SMA连接器(J17)向REFCLK引脚施加LVTTL/LVCMOS(3V)的时钟信号,其频率必须在TCLK信号频率的+/-5%范围内。
- 此时,输入的数据将被序列化、传输、反序列化并重新驱动到解串器输出(ROUT [0:15])。用户还可以通过探测板上的LVDS信号探测点来监测LVDS信号的完整性。
七、测试设备与终端设置
7.1 测试设备
- 信号生成:可使用TEK HFS9009模式发生器、TEK DG2020发生器或TEK MB100 BERT误码率测试仪等设备来生成输入信号和时钟信号。
- 信号监测:可使用TEK MB100 BERT解串器或任何具有50Ω输入的示波器来监测输出信号。
7.2 终端设置
- 并行输出:为了与50Ω示波器探头兼容,可在输出信号上添加450Ω串联电阻。板上的输出串联电阻焊盘出厂时带有短路走线,使用时需要在安装电阻前切断走线。
- 并行输入:板上已包含连接到地的50Ω终端电阻。
- 差分信号:差分信号连接可在2mm Hard-Metric Header(P1B)上找到。解串器输入处提供了100Ω终端电阻(R39),串行器输出处提供了可选的未填充电阻焊盘(R40)。
八、总结
BLVDS16EVK评估板为工程师提供了一个方便的平台来测试和验证DS92LV16 BLVDS SERDES接口设备的性能。通过本文的介绍,相信大家对该评估板的功能、设置和测试方法有了更深入的了解。在实际应用中,大家可以根据具体需求进行灵活配置和测试。你在使用类似评估板的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享。
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