电子说
在电子设备设计中,静电放电(ESD)保护是至关重要的环节。德州仪器(Texas Instruments)的TPD1E0B04评估模块(EVM)为工程师提供了一个有效的工具,用于评估TPD1E0B04器件的性能。下面将详细介绍该评估模块的相关内容。
文件下载:TPD1E0B04EVM.pdf
TPD1E0B04是一款用于HDMI 2.0和USB 3.1 Gen II超高速数据线保护的单向瞬态电压抑制(TVS)ESD保护二极管,它能够承受IEC 61000 - 4 - 2国际标准(4级)规定的最大ESD冲击。评估模块包含六个TPD1E0B04器件,其中五个(D1 - D5)配置了测试点,用于对保护引脚进行ESD冲击测试;一个(D6)配置了2个SMA(J1和J2)连接器,用于通过矢量网络分析仪进行2端口分析,也可在ESD测试期间使用示波器捕获钳位波形。
这是一种测试方法,即将ESD模拟器的电极与被测设备(DUT)保持接触进行测试。
该测试方法是让ESD模拟器的带电电极靠近DUT,当产生火花时触发放电。
能输出符合IEC 61000 - 4 - 2标准的ESD波形,其输出范围可根据表1和表2进行调整。IEC 61000 - 4 - 2有4类保护等级,应力测试需逐步增加到4级,直到设备出现故障。若设备在8 kV时未出现故障,可继续以2 kV的增量进行测试,直至故障出现。
TPD1E0B04(D1 - D5)可用于破坏性ESD通过或失败冲击测试,适用于IEC 61000 - 4 - 2的空气和接触放电测试。测试时,使用香蕉连接器J3将EVM接地,通过ESD模拟器在测试点TP1 - TP5上进行放电。接触放电和空气间隙放电使用相同的模拟器和放电波形,区别在于接触放电时模拟器与测试点直接接触,而空气间隙放电时则不接触。测试结果评估可通过在ESD测试前后将EVM上的被测设备连接到曲线跟踪仪来进行。若ESD保护二极管的IV曲线偏移±0.1 V,或泄漏电流增加10倍,则表明设备已被ESD永久损坏。
TPD1E0B04(D6)配置了2个SMA(J1和J2)连接器,可通过矢量网络分析仪进行2端口分析。将端口1连接到J1,端口2连接到J2,可得到2端口分析中的相关参数,如(S{11})(回波损耗)和(S{21})(插入损耗)。
TPD1E0B04(D6)的两个SMA连接器(J1和J2)可用于在ESD冲击期间使用示波器捕获钳位波形。为避免损坏示波器,需采取适当的操作步骤。推荐的测量设备包括:一台2 GHz带宽(最小1 GHz)的示波器、两个10X 50 - Ω衰减器和一根50 - Ω屏蔽SMA电缆。以测试D3为例,具体操作步骤如下:
TPD1E0B04EVM是一块厚度为0.062英寸的4层FR408HR板,其中第2、3、4层为接地层。
模块的原理图展示了各个器件的连接方式,为工程师提供了清晰的电路结构参考。
| Count | RefDes | Description | Package Reference | Part Number | MFR |
|---|---|---|---|---|---|
| 6 | D1, D2, D3, D4, D5, D6 | 1 - Channel ESD Protection Device for Super - Speed (up to 6 Gbps) Interface, DPL0002A | DPL0002A | TPD1E0B04DPL | Texas Instruments |
| 2 | J1, J2 | Connector, TH, End launch SMA 50 Ω | Connector, TH, End launch SMA | 142 - 0761 - 881 | Johnson |
| 1 | J3 | Standard Banana Jack, Insulated, Black | 6092 | 6092 | Keystone |
在使用TPD1E0B04评估模块进行设计和测试时,工程师们需要严格按照上述步骤和要求进行操作,以确保测试结果的准确性和设备的可靠性。大家在实际应用中是否遇到过类似模块使用的问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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