onsemi碳化硅共源共栅JFET器件UJ3C065080T3S的技术剖析

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onsemi碳化硅共源共栅JFET器件UJ3C065080T3S的技术剖析

在功率电子器件领域,碳化硅(SiC)器件凭借其卓越的性能正逐渐成为研究和应用的热点。今天我们要深入探讨的是onsemi的SiC共源共栅JFET器件——UJ3C065080T3S。

文件下载:UJ3C065080T3S-D.PDF

器件概述

UJ3C065080T3S采用独特的“共源共栅”电路配置,将常开型SiC JFET与Si MOSFET共同封装,形成了常关型SiC FET器件。这种设计使得该器件具备标准的栅极驱动特性,能够直接替代Si IGBT、Si FET、SiC MOSFET或Si超结器件。它采用TO220 - 3封装,具有超低的栅极电荷和出色的反向恢复特性,非常适合用于开关感性负载以及需要标准栅极驱动的应用场景。

关键特性

低导通电阻

该器件典型导通电阻 (R_{DS(on), typ}) 为80mΩ,低导通电阻意味着在导通状态下的功率损耗更低,能够有效提高系统的效率。在实际应用中,低导通电阻可以减少发热,降低散热要求,从而降低系统成本。

宽温度范围

其最高工作温度可达175°C,这使得它能够在高温环境下稳定工作。在一些工业、汽车等应用场景中,环境温度往往较高,该器件的宽温度范围特性能够保证其在这些恶劣环境下正常运行。

优秀的反向恢复特性

具有出色的反向恢复能力,反向恢复时间短,反向恢复电荷小。这对于开关电源、逆变器等应用来说至关重要,能够减少开关损耗,提高开关频率,进而提高系统的功率密度。

低栅极电荷和低固有电容

低栅极电荷意味着驱动该器件所需的能量更少,能够降低驱动电路的功耗。低固有电容则有助于提高器件的开关速度,减少开关过程中的振荡和过冲。

静电保护

具备ESD保护功能,达到HBM Class 2标准,能够有效防止静电对器件造成损坏,提高器件的可靠性。

环保特性

该器件无铅、无卤素,符合RoHS标准,符合环保要求,有助于企业满足相关法规和市场需求。

典型应用

电动汽车充电

在电动汽车充电领域,对功率器件的效率、可靠性和散热性能要求较高。UJ3C065080T3S的低导通电阻和优秀的反向恢复特性能够有效提高充电效率,减少发热,提高系统的可靠性。

光伏逆变器

光伏逆变器需要将直流电转换为交流电,对功率器件的性能要求也很高。该器件的低损耗特性能够提高逆变器的效率,降低系统成本。

开关模式电源

在开关模式电源中,该器件的快速开关特性和低损耗能够提高电源的效率和功率密度,满足现代电子设备对电源小型化、高效化的需求。

功率因数校正模块

功率因数校正模块需要提高电源的功率因数,减少谐波污染。UJ3C065080T3S的优秀性能能够有效提高功率因数校正模块的效率和性能。

电机驱动

在电机驱动应用中,该器件的高耐压和低损耗特性能够满足电机驱动的要求,提高电机驱动系统的效率和可靠性。

感应加热

感应加热需要快速开关的功率器件来产生高频磁场。UJ3C065080T3S的快速开关特性和低损耗能够满足感应加热的需求,提高加热效率。

电气参数

最大额定值

参数 符号 测试条件 单位
漏源电压 (V_{DS}) 650 V
栅源电压 (V_{GS}) DC -25 to +25 V
连续漏极电流( (T_{C}=25°C) ) (I_{D}) (T_{C}=25°C) 31 A
连续漏极电流( (T_{C}=100°C) ) (I_{D}) (T_{C}=100°C) 23 A
脉冲漏极电流 (I_{DM}) (T_{C}=25°C) 65 A
单脉冲雪崩能量 (E_{AS}) (L = 15 mH, I_{AS} = 2.1 A) 33 mJ
功率耗散 (P_{tot}) (T_{C}=25°C) 190 W
最大结温 (T_{J,max}) 175 °C
工作和储存温度 (T{J}, T{STG}) -55 to 175 °C
焊接时最大引脚温度(距外壳1/8”,5秒) (T_{L}) 250 °C

热特性

热阻,结到外壳 (R_{thJC}) 典型值为0.61°C/W,较低的热阻有助于将热量快速散发出去,保证器件在正常温度下工作。

电气特性

部分电气特性参数如下( (T_{J}= +25°C) ,除非另有说明):

  • 总漏极泄漏电流:在 (V{DS}=650 V, V{GS}=0 V, T{J}=25°C) 时,典型值为6μA;在 (V{DS}=650 V, V{GS}=0 V, T{J}=175°C) 时,典型值为40μA。
  • 栅源泄漏电流 (I{GSS}) :在 (V{DS}=0 V, T{J}=25°C) , (V{GS}=-20V/+20V) 时,最大值为 +20μA。
  • 导通电阻 (R{DS(on)}) :在 (V{GS}=12V, I{D}=20A) , (T{J}=25°C) 时,有相应典型值; (T{J}=125°C) 和 (T{J}=175°C) 时,也有不同的典型值, (T_{J}=175°C) 时为141mΩ。
  • 栅极阈值电压 (V{G(th)}) :在 (V{DS}=5 V, I_{D}=10 mA) 时,有相应取值范围。

典型性能曲线

文档中给出了多个典型性能曲线,包括不同温度下的输出特性曲线、导通电阻与温度的关系曲线、转移特性曲线、栅极电荷曲线等。这些曲线能够帮助工程师更好地了解器件的性能,在实际设计中进行合理的参数选择和优化。

应用注意事项

PCB布局设计

由于该器件具有较高的dv/dt和di/dt速率,为了减少电路寄生参数的影响,强烈建议进行合理的PCB布局设计。例如,尽量缩短器件引脚与其他元件之间的连线长度,减少寄生电感和电容。

外部栅极电阻

当FET工作在二极管模式时,建议使用外部栅极电阻,以实现最佳的反向恢复性能。外部栅极电阻可以控制栅极电流的上升和下降速度,减少开关过程中的振荡和过冲。

总结

onsemi的UJ3C065080T3S碳化硅共源共栅JFET器件具有诸多优异的特性,在多个领域都有广泛的应用前景。电子工程师在设计过程中,可以根据其电气参数和典型性能曲线进行合理的选择和优化,同时注意PCB布局设计和外部栅极电阻的使用,以充分发挥该器件的性能优势。你在实际应用中是否遇到过类似器件的设计问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。

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