DDR存储器端接电源VTT详解

描述

1. 引言

双倍数据速率 (DDR) 存储器是应用最广泛的动态随机存取存储器 (DRAM) 类型。计算机、笔记本电脑、服务器和其他电子设备都使用 DDR 存储器。

DDR 存储器供电需要两组电源轨:VDDQ(漏极到漏极核心电压)和 VTT。通常,由于电流需求较高,VDDQ 轨由开关电源供电。根据电流需求,VTT 轨可采用无源端接或有源端接供电。

表1. DDR、DDR2、DDR3 和 LPDDR3 端接技术

存储器

本文阐述了 VDDQ 和 VTT 如何为 DDR 存储器供电,分析比较了两种 VTT 端接类型的功率损耗和电压偏差,总结了有源端接的优势。

2. 用于 DDR 设计的串联短截线端接逻辑 (SSTL)

图1展示了 DDR 设计中使用的串联短截线终端逻辑 (SSTL)。该电路使用一个串联电阻 (RS) 连接输出缓冲器(驱动器)与存储器(接收器),并使用一个终端电阻 (RT) 连接到终端电源轨 (VTT)。典型的 VTT 电压和 VREF 参考电压均等于 VDDQ/2。

输出缓冲输出高电平时:开关管 Q1 导通、Q2 关断,电流从 VDDQ 经 Rs、Rt 流向 VTT,VTT 吸收电流,接收端输入电压 VIN 高于 VREF;

输出缓冲输出低电平时:开关管 Q1 关断、Q2 导通,电流从 VTT 经 Rt、Rs 流向地,VTT 向外输出电流,接收端输入电压 VIN 低于 VREF。

存储器

图1. DDR 设计中使用的串联短截线终端逻辑 (SSTL)

为避免数据读写出错,VIN 必须落在规范阈值窗口内。以 DDR2 对应的 SSTL_18 标准为例:

高电平识别:VIN 必须高于 VREF+125mV,接收端才能正确判定为高电平;

低电平识别:VIN 必须低于 VREF-125mV,接收端才能正确判定为低电平。

若 VIN 超出规范区间,会引发内存读写故障。

表2. SSTL_18 直流输入逻辑电平规范

VIH(dc) 直流输入高电平 VREF + 125 mV VDDQ + 300 mV
VIL(dc) 直流输入低电平 -300 mV VREF - 125 mV
符号 参数定义 最小值 最大值

3. 无源端接功耗分析

图 2、图 3 分别为 SSTL_18(DDR2)无源端接的高、低电平数据线简化电路。

示例参数:VDDQ=1.8V,VREF=0.9V;驱动管 Q1/Q2 导通电阻 RON 典型值 20Ω;串联电阻 Rs=20Ω,匹配电阻 Rt=25Ω;无源端接由两只等值电阻 Rp 构成分压网络。

存储器

图2. 采用无源端接的高电平位线

存储器

图3. 采用无源端接的低电平位线

在 DDR 存储器中,多条位线共用同一个 VTT 电压。输出缓冲器对于高电平位线处于高态,对于低电平位线处于低态。如果高电平位线与低电平位线的数量恰好相等,那么来自高电平位线的 VTT 灌电流(流入端接的电流)就等于来自低电平位线的拉电流(流出端接的电流)。因此,净 VTT 电流为零。在此例中,VTT 电压恰好等于 VDDQ/2。

如果高电平位线和低电平位线的数量不相等(这是应用中的典型情况),VTT 电压就不等于 VDDQ/2。净 VTT 电流和 RP 电阻值决定了实际的 VTT 电压。

假设低电平位线的数量多于高电平位线,则净 VTT 电流流出端接,VTT 电压低于 VDDQ/2。根据计算,为了使高电平位线上的 VIN 高于逻辑高阈值(VREF + 125 mV = 1.025 V),VTT 电压必须高于 0.54 V。

对于一个具有 32 条数据线和 10 条地址线的 DDR2 存储器应用,总共有 42 条线。假设 VTT 端接拉出电流且 VTT 电压为 0.54 V,请使用表 2 来确定所需的 RP 电阻值以及两个电阻上的总功率损耗。经计算,如果所有线均为低电平位线,该应用需要两个 2.07 Ω 的电阻。这些电阻产生的总功率损耗为 0.91 W。为了使 VTT 电压高于 0.54 V(以增加裕量),RP 电阻值必须更小,而两个电阻上的功率损耗则会增加。

表3. 无源端接的功率损耗

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如下以42根线全部输出低电平为例进行详细推导:

① 先求最低允许VTT=0.54V

规范要求:任意信号线变为高电平时,接收端输入电压

存储器

高电平信号回路:

存储器

代入

存储器 ,求解得

存储器

②求极限工况下IVTT=0.35A

信号线输出低电平:电流路径

存储器

单根电流:

存储器

42 根并联总电流(VTT 向外流出)

存储器

③ 无源分压网络求

存储器

存储器

移项整理:

存储器

代入 存储器

存储器

④ 分压电阻功率损耗Ploss = 0.91W

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4. 有源端接

TPS51200 器件是一款灌电流和拉电流双倍数据速率 (DDR) 终端稳压器,专门针对低输入电压、低成本、低噪声 的空间受限型系统而设计。

该器件集成了一个能够拉取和灌入电流的高性能低压降 (LDO) 线性稳压器,可保持快速的瞬态响应,仅需 20μF 超低输出电容。该器件支持远端电压检测功能,并能满足 DDR、 DDR2、DDR3、DDR3L、低功耗 DDR3 和 DDR4 VTT 总线终端的所有电源要求。

TPS51200 支持启动和关断跟踪。在跟踪启动期 间,一旦 REFIN 电压大于 0.39V,VO 就会跟随 REFOUT。REFIN 通过分压器来跟随 VDDQ 电源轨的上升。

REFOUT 会生成存储器应用的 DDR VTT 基准电压。它能够支持 10mA 的拉 电流和灌电流负载。

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图5. DDR3端接电源VTT设计

存储器

图6. DDR3端接设计(地址、命令、控制)

5. 无源端接与有源端接的对比

相比无源端接,有源端接的 VTT 电压偏差更小、整体功耗更低。以 TPS51200 为例,输出电流 2A 时,电压偏差可控制在 25mV 以内。

表 3 对 DDR2 应用中的无源端接和有源端接进行了比较。在该表中,两个 2 Ω 电阻用作无源端接。TPS51200 器件用作有源端接。因为有源端接下的 VTT 电压非常接近 0.9 V,所以在整个电流范围内均使用 0.9 V 进行计算。该表列出了两种端接类型在不同 VTT 电流条件下的 VTT 电压偏差和功率损耗。

如表 3 中的计算结果所示,无源端接工作期间的 VTT 电压在电流增大时会显著下降。当电流水平为 0.35 A 时,VTT 电压从 0.9 V 降至 0.55 V。如果电流高于 0.35 A,VTT 电压会降至 0.54 V 以下,高电平位线上的 VIN 电压将不再保持在规格窗口之内。这种变化的结果是,可能发生读/写错误。

表4. 无源端接与有源端接的对比

存储器

除了电压偏差更小之外,有源端接工作期间的功率损耗也远低于无源端接工作期间。当 VTT 电流为 0 A 时,有源端接工作期间的功率损耗几乎为 0 W,而无源端接工作期间则为 0.81 W。这种差异带来的影响是,在待机模式下 VTT 电流非常小时,无源端接比有源端接消耗的功率大得多。当 VTT 电流为 0.35 A 时,有源端接的功率损耗为 0.315 W,这一功率损耗仅为无源端接 0.93 W 功率损耗的三分之一。

6. 总结

在无源端接应用中,低阻值电阻有助于减小 VTT 电压偏差并避免读/写错误,但会导致高功率损耗。高阻值电阻有助于降低功率损耗,但会增加位错误的几率。

与无源端接相比,有源端接解决方案的功率损耗低得多,VTT 电压偏差也更小,因此提高了数据读/写的准确性和完整性。

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