NI半导体测试方案助力IC设计

许多半导体的检验与特性实验室．都依赖机架堆叠仪器搭配大量的手动测试程序，而生产测试单位则使用完整、高效能的昂贵自动化测试设备 ATE 来完成。从实验室到产线所采用的测试方法不同．很难能够进行很好的关联（ correlation ) ，使得整体的测试成本难以降低。因此最佳的系统优化应透过通用的统一的测试平台，可因应设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门可轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能，进而降低成本。

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NI 覆盖实验室特征分析、晶圆测试（ WAT , CP ，晶圆可靠性测试等）、 FT 测试以及 SLT 系统级测试的方案，不论是设计验证、晶圆制造、封装过程中或是封装完成．针对 RFIC 、混合信号芯片、甚至最新 3DIC 和系统级封装（ SIP ) 等不同测试类型和趋势， Nl 通过统一的平台和业界领先的仪器技术助您提高测试速度、降低成本。

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实验室特征分析

Nl 平台具有最佳实验室交互体验帮助快速调试、分析，并与自动化测试无缝对接。‍

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SLT 系统级测试

通过系统协议级通信、异步并行测试、可扩展的模块化平台减低系统级测试时间和成本。‍

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晶圆测试

NI fA 级高性能源测量单元大幅提升晶圆测试通道密度及并行性、降低系统体积。  ‍

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FT 测试

NI 平台利用原有开放性和灵活性，与生产环境要求对接．高吞吐量测试特性提升测试效率、减低测试时间。‍

NI半导体测试系统：STS

NI 的半导体测试系统（ Semiconductor Test System ，筒称 STS ）提供了可快速部署到生产的测试系统，适用于半导体生产侧试环境此外． PXI 平台开放式与模块化的设计，使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器咨源．进一步提升半导体测试效率，降低测试成本

强大的软件工具用来开发、调试和部署测试程序

NI 半导体模块可帮助测试工程师开发、调试、优化、部署和维护半导体测试系统。借助这款针对行业标准 Test 一 stand 环境的附加模块，半导体测试工程师将可获得一流的测试程序开发和调试环境。‍

适用于主流半导体制造环境

Nl STS 适用于主流半导体制造环境，比如分选机（ Handler ) /探针（ prober ）集成、标准 Docking （包括 Soft Dock / Hard Dock ）、弹黄探针（ Pogo Pin ）连接、 STDF 数据报表生成和系统校准，可轻松集成到生产测试设备。