同星智能2026上海汽车测试展精彩回顾，AI工程方法引全场瞩目

2026 Automotive Testing Expo China

2026年8月26-28日，2026中国汽车测试及质量监控博览会(Automotive Testing Expo China)在上海世博展览馆圆满举行。同星智能在1号馆H1-3052展台掀起一场“测试技术热”，AI赋能测试的工程演讲引发全场共鸣。

亮点一

展台互动 | 解锁同星限定周边

本次展会，除了携TSMaster全栈工具链、测试解决方案及六大硬件产品体系集体亮相。同星智能也准备了丰富的现场互动体验，趣味任务、限定周边与展台打卡，让大家在探索和了解产品的同时，也带走一份属于汽车测试展的专属记忆。

亮点二

精彩演讲 | AI工程方法引发全场共鸣

8月27日14:00-14:25，同星智能研发总监徐金鹏博士(Dr.Xu)在上海世博展览馆1号馆带来主题演讲——《可校验模型：汽车电子测试中的AI工程方法》。

演讲现场座无虚席。演讲结束后大批听众意犹未尽，围住徐金鹏博士继续探讨AI与工程师的分工边界、TAD在实际项目中的落地路径等话题，现场交流持续许久。

亮点三

口碑发酵 | 客户咨询热潮涌动

好内容自带传播力。演讲结束后，不少观众径直来到H1-3052展位，就演讲中提到的方法与现场展示的TSMaster功能展开深入交流，直接带动了展位咨询量的明显增长。

围绕Testing × AI与可校验模型落地方式的探讨成为咨询热点;

诊断一致性测试自动化、总线一致性测试等方案收获大量意向客户;

多家整车厂与零部件企业的工程团队现场详细了解了产品细节，并登记了后续测试与合作意向。

小小展台，因为硬核的技术与真诚的交流，成了展馆里人气极高的"打卡点"。

展会落幕，精彩继续