JTAG接口定义

　　JTAG（联合测试工作组）是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

　　如今大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

　　JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。如今，JTAG接口还常用于实现ISP（在系统编程），对FLASH等器件进行编程。

　　JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程然后再装到板上，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对DSP芯片内部的所有部件进行编程。

　　TAG引脚定义：

　　具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：

　　TCK——测试时钟输入；

　　TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；

　　TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；

　　TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。

　　可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。

　　含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。

　　JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。TAP控制器的状态机通过TCK和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。