用途：为半导体、光学镜片、材料、3C消费类电子、医疗、刀具等行业提供纳米级别粗糙度、台阶高度、微观形貌、三维形貌比对、高度、平面尺寸等要素测量。
特点：最高0.03nm精度，业内最快速度，可客制化测量工具和在线测量。
优可测白光干涉仪
型号:
ER320
品牌:
Atometrics(优可测)