NI：智能时代展望更智能的测试系统趋势

NI使用ATE核心组件配置，帮助降低测试系统设计和部署成本

NI自动化测试趋势展望回顾了智能设备时代所需的测试方法

西安交通大学与NI合作建立联合创新实验基地

如何把握真正行之有效的嵌入式智能设备测试？

50GHz！安捷伦保持业界最高噪声测量精度

全面提升自动化测试，NI TestStand 2012新模块化框架

NI Days 2012即将登场 领跑自动化新纪元

NI公司以领先的通道密度扩充SMU系列产品

爱德万力拼2014年自动化测试设备(ATE)市占超过50%目标

艾法斯获得授权为移动设备的自动化测试提供测试系统

高速串行数据链路的自动化一致性测试

WLAN自动化测试平台的设计及实现

一种GUI自动化测试框架方案

动态文档发布系统中的自动化测试应用

PXI-自动化测试平台

自动化测试解决方案

NI发布的《2010自动化测试前景报告》

Tektronix自动化方案支持HDMI 1.4兼容性测试