以下是一个基于STM32的ADC实验的基本步骤和说明（以HAL库为例）：

一、硬件准备

1. 开发板：STM32系列开发板（如STM32F103C8T6）
2. 被测信号：电位器（连接ADC引脚）或传感器（如光敏电阻、温度传感器等）
3. 连接方式：
   • 电位器中间引脚接PA1（ADC1通道1）
   • 电位器两端接3.3V和GND

二、软件配置（CubeMX）

1. 启用ADC：

   • 在CubeMX中，选择ADC1，配置通道（如Channel 1）。
   • 设置参数：
     • 分辨率（12位）
     • 采样时间（建议设置较长时间以提高精度，如239.5 Cycles）
   • 开启连续转换模式（Continuous Conversion Mode）和扫描模式（Scan Mode）。

2. 配置GPIO：

   • 将PA1引脚设为模拟输入模式（Analog）。

3. 生成代码：

   • 生成HAL库代码（选择开发环境，如Keil或STM32CubeIDE）。

三、代码编写

// 1. ADC初始化
ADC_HandleTypeDef hadc1;

void MX_ADC1_Init(void) {
  hadc1.Instance = ADC1;
  hadc1.Init.ScanConvMode = ADC_SCAN_DISABLE;      // 单通道禁用扫描
  hadc1.Init.ContinuousConvMode = ENABLE;          // 开启连续转换
  hadc1.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;      // 数据右对齐
  hadc1.Init.NbrOfConversion = 1;                  // 1个转换通道
  hadc1.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START; // 软件触发
  HAL_ADC_Init(&hadc1);

  // 配置通道1（PA1）
  ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};
  sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_1;
  sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_1;
  sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_239CYCLES_5;
  HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig);
}

// 2. 主函数中读取ADC值
int main(void) {
  HAL_Init();
  MX_ADC1_Init();
  HAL_ADC_Start(&hadc1);  // 启动ADC转换

  while (1) {
    HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 100);  // 等待转换完成
    uint16_t adc_value = HAL_ADC_GetValue(&hadc1); // 读取ADC值
    float voltage = (adc_value * 3.3) / 4095;     // 转换为电压值（12位分辨率）
    HAL_Delay(500);
  }
}

四、关键点说明

1. ADC校准：首次使用前可调用 HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1) 提高精度。
2. 参考电压：默认使用VREF+ = 3.3V，需确保被测信号不超过此范围。
3. 分辨率：12位ADC对应最大值为4095（2^12 -1）。
4. 多通道采集：需配置扫描模式（ScanConvMode = ENABLE）并设置多通道的Rank。

五、常见问题

1. ADC值不稳定：
   • 增加采样时间（SamplingTime）
   • 硬件上并联滤波电容（如0.1μF）
2. 校准失败：确保ADC时钟频率不超过规格（如STM32F1最大14MHz）。
3. 通道映射错误：检查CubeMX中ADC通道与实际引脚是否匹配（参考数据手册）。

六、实验结果验证

通过调试器观察 adc_value 变量，或通过串口输出ADC值。旋转电位器时，数值应在0~4095范围内变化，对应电压0~3.3V。