STM32系列微控制器的ADC最高采样率取决于具体型号和配置。以下是常见系列的典型最高采样率：

1. STM32F1系列：通常最高为1 Msps（每秒百万次采样），工作在12位分辨率下。

2. STM32F3系列：部分型号（如STM32F334）支持5.1 Msps（在快速过采样模式下），常规模式下为2.4 Msps（12位）。

3. STM32F4系列：一般为2.4 Msps（12位分辨率）。

4. STM32H7系列：高性能型号（如STM32H743）在12位模式下可达3.6 Msps，部分模式下甚至更高。

关键影响因素：

• 时钟配置：ADC时钟需不超过规格书限制（例如14 MHz），通过APB2总线分频调节。
• 采样周期：缩短采样时间可提高速率（如STM32F1的最小1.5周期）。
• 工作模式：单通道连续转换模式通常能达到最高速率，多通道扫描会降低采样率。
• 多ADC协同：部分型号支持多ADC交替采样（如双ADC交织模式），理论总速率翻倍。

注意事项：

• 需在数据手册中确认具体型号的ADC参数。
• 高采样率可能受电源噪声和PCB布局影响，需优化硬件设计。

例如，STM32F334在特定配置下可实现5.1 Msps，而STM32H743常规模式为3.6 Msps。建议根据实际型号参考对应数据手册（如搜索“STM32xxxx ADC datasheet”）获取精确参数。