集成运算放大器（运放）的好坏判断及参数测试是电子电路调试中的重要环节，以下为具体方法和步骤：

一、好坏判断

1. 外观检查

   • 观察封装是否破损、引脚是否氧化或断裂。
   • 检查是否有烧焦、鼓包或异味（可能因过压、过流导致损坏）。

2. 静态测试（未通电）

   • 用万用表二极管档测量电源引脚（V+、V-）对地（GND）的电阻：
     • 正常情况：正向电阻较大（几百Ω至kΩ级），反向电阻无穷大。
     • 若电阻接近0Ω或异常低，可能内部短路。

3. 上电测试（基本功能）

   • 搭建电压跟随器电路（输出接反相输入），输入与输出应相等（误差在失调电压范围内）。
   • 若输入正常但输出异常（如饱和到电源电压或无输出），可能运放损坏。

二、关键参数测试

1. 输入失调电压（Vos）

• 电路：运放接成闭环（如反相放大，增益≥100），输入端接地。
• 方法：测量输出电压 ( V{out} )，计算 ( V{os} = \frac{V_{out}}{增益} )。
• 正常范围：典型值在μV~mV级（如LM741约1~5mV）。

2. 输入偏置电流（Ib）

• 电路：输入端通过大电阻（如1MΩ）接地，输出接电压跟随器。
• 方法：测量输入引脚电压 ( V )，计算 ( I_b = \frac{V}{R} )。
• 典型值：nA~μA级（如JFET输入型运放低至pA级）。

3. 共模抑制比（CMRR）

• 电路：运放接成单位增益跟随器，输入共模电压 ( V_{CM} )。
• 方法：测量输出电压变化 ( \Delta V{out} )，计算 ( CMRR = 20 \log \left( \frac{V{CM}}{\Delta V_{out}} \right) )。
• 典型值：80~120 dB。

4. 开环增益（Aol）

• 电路：运放接成开环，输入低频小信号（如1kHz）。
• 方法：测量输入差分电压 ( V{in} ) 和输出 ( V{out} )，计算 ( Aol = \frac{V{out}}{V{in}} )。
• 典型值：10⁵~10⁶（100~120 dB）。

5. 带宽（GBW）

• 电路：运放接成反相放大（增益=1），输入正弦信号。
• 方法：逐步提高输入频率，当输出幅度下降3dB时对应频率即为带宽。
• 典型值：MHz级（如LM741约1MHz）。

6. 压摆率（Slew Rate）

• 电路：输入大幅值方波（如±10V），测量输出波形上升时间。
• 方法：( SR = \frac{\Delta V}{\Delta t} )（如LM741约0.5V/μs）。

三、工具与注意事项

1. 所需仪器：

   • 万用表、示波器、信号发生器、直流稳压电源。
   • 必要时使用专用测试电路（如失调电压测试板）。

2. 注意事项：

   • 测试时确保供电电压符合规格（避免过压）。
   • 防止静电（ESD）损坏高精度运放。
   • 高温或低温环境下需考虑温漂影响。

通过以上方法可全面评估集成运放的性能状态，判断其是否正常工作或是否符合设计需求。