采用万用表如何检测出可控硅的好坏？

可控硅的优点很多，例如：以小功率控制大功率，功率放大倍数高达几十万倍；反应极快，在微秒级内开通、关断；无触点运行，无火花、无噪音；效率高，成本低等等。

好的，使用万用表检测可控硅（SCR）的好坏，可以通过以下步骤进行。这些步骤主要基于可控硅的基本特性：阻断（截止）状态下A-K极间高电阻、可控触发导通、触发后维持导通直到电流低于维持电流。我们将使用万用表的电阻档（Ω档）或二极管档进行测试。

核心思路：

初步检查 A-K、A-G、G-K 之间的短路/开路。
测试门极 G 的性能。
测试触发能力和维持导通能力。
（可选）测试截止能力（更严谨）。

所需工具：

万用表（指针式或数字式均可，推荐指针式，因其输出电流较大，更容易触发和维持导通）
被测可控硅

检测步骤（以最常见单向可控硅为例）：

安全第一步： 在接触元件引脚之前，确保可控硅没有储存电荷，并确保万用表电池良好。
初步检查（排除明显短路/开路）：
- 将万用表置于高电阻档位（如 R×1K 或 R×10K）。
- 测试 A-K（阳极-阴极）反向：
  - 红表笔接阳极(A)，黑表笔接阴极(K)。应为高电阻（指针几乎不动 / 数字表显示 "OL" 或一个很大的兆欧值）。 这表明可控硅在关断状态下。
- 测试 A-K（阳极-阴极）正向：
  - 黑表笔接阳极(A)，红表笔接阴极(K)。同样应为高电阻（与上面结果相同）。这是因为没有触发信号。
- 测试 G-K（门极-阴极）正反向电阻：
  - 正向 (PN结导通)： 黑表笔接门极(G)，红表笔接阴极(K)。应显示一个较低电阻（几十欧到几百欧），表明G-K之间是一个正常的PN结。 (类似测普通二极管的正向特性)
  - 反向 (PN结截止)： 红表笔接门极(G)，黑表笔接阴极(K)。应为高电阻（指针几乎不动 / 显示 "OL" 或很大值）。 同样表明G-K结的反向截止特性。
- 测试 A-G（阳极-门极）正反向：
  - 无论表笔如何连接（红-A黑-G 或黑-A红-G），均应显示高电阻。 正常状态下，A-G之间不是简单的PN结。
- 结论： 如果在上述任何一步发现A-K间、A-G间或G-K反向出现短路（电阻接近0Ω）或A-K在触发后依然开路不通，则该可控硅很可能已损坏。
测试门极 G 性能 (确认 G-K 结是否正常)：
- 重复第2步中的 G-K（门极-阴极）正反向电阻 测试。
- 正常： 正向低阻，反向高阻，且正反向阻值有明显差异（正向几十至几百欧，反向几百千欧以上）。如果正反向电阻都很大（接近开路）或都很小（接近短路），则门极损坏。
测试触发能力和维持导通能力 (最关键步骤)：
- 将万用表置于低电阻档位（最好能用 R×1 档或 R×10 档，指针式表效果更佳，因其输出电流较大）。数字表可用二极管档或电阻档中的低阻档（如果有的话，但其电流通常较小，可能不足以维持导通）。
- 连接表笔：
  - 黑表笔接阳极(A)
  - 红表笔接阴极(K)
  - 此时万用表应显示高电阻（因为可控硅未触发）。
- 触发导通：
  - 保持黑表笔在 A，红表笔在 K。
  - 用一根导线或直接短暂触碰门极(G)到阳极(A)一下（对于指针表，用手指同时触碰黑表笔和G极引脚也可以）。这相当于给G极加了一个正向触发电压（黑表笔接A相当于A是正电位，连接到G极使其相对K获得正电压）。
  - 观察：
    - 如果可控硅是好的，且万用表提供的电流足够大（大于掣住电流和维持电流），万用表读数应立刻跳变为一个低电阻值（指针表指针显著向右偏转 / 数字表显示一个很小的阻值，如几欧到几十欧），并且保持在这个低阻状态。 这表明可控硅被成功触发并且维持导通。
- 停止触发：
  - 在可控硅导通后，移开连接A-G的导线或手指。此时万用表仍应显示低电阻。只要流过A-K的电流大于维持电流，可控硅就应该维持导通。万用表的低阻档通常能提供足够维持的电流。
- 断开电流复位：
  - 保持黑表笔在A，断开红表笔与K的连接（或者断开黑表笔与A的连接），或者将万用表转至其他档位。这相当于断开了A-K主回路的电流。
  - 然后重新连接红表笔到K（或黑表笔到A）。
  - 此时万用表应再次显示高电阻。因为电流已降到零，可控硅恢复关断状态。
- 结论：
  - 如果触碰G-A后能导通且能维持导通（移开触发后仍然导通），直到断电才恢复截止，则说明可控硅的触发和维持能力基本正常。
  - 如果触碰G-A后能瞬间导通一下（指针摆一下），但马上又恢复高阻（不能维持），说明万用表提供的电流太小（不足以达到维持电流），可以尝试更低的电阻档（比如指针表的R×1档电流最大）。如果换大电流档后仍然不能维持，则可能掣住电流或维持电流过大，或元件部分老化。
  - 如果无论如何触碰G-A都不能导通，则可能：
    - 门极已损坏。
    - 触发电压/电流需求过高，万用表提供不了（但使用R×1或R×10档可能性较低）。
    - 可控硅内部开路。
（可选）严谨测试截止能力：
- 在完成第4步的触发导通再断电复位后（可控硅应处于关断状态）。
- 再次测量A-K正反向电阻（如步骤2开头部分）。
- 正常： 应该都是高电阻。如果在未触发状态下A-K呈现低电阻（无论正向还是反向），说明可控硅存在漏电或短路性损坏。

结果总结（用指针表 R×1或R×10档最容易判断）：

测试项目	好SCR的表现	坏SCR的可能表现 (对应故障)
A-K未触发 (正向/反向)	高电阻	低电阻(短路漏电) 或开路(测不出)
G-K正向电阻	低电阻 (几十至几百Ω)	非常大或无穷大(开路) / 零(短路)
G-K反向电阻	非常高/无穷大	很低或为零(短路漏电)
A-G (正反向)	非常高/无穷大	很低或为零(短路漏电)
触发导通	短接G-A后立刻变低阻	无变化(不触发或开路)
维持导通	移开G-A连接后保持低阻	变回高阻(维持电流不足或损坏)
关断复位	断开A或K后重测A-K恢复高阻	仍为低阻(无法关断/短路)
(可选) 关断后A-K电阻	高电阻	低电阻(漏电/短路)

重要提示：

数字万用表的局限： 部分数字表的电阻档或二极管档输出电流较小（可能低于1mA），而某些可控硅（尤其是大功率或特定型号）的触发电流或维持电流较大。因此，使用数字表时，如果在低阻档无法维持导通（表现为触发瞬间导通一下但立即截止），不要立即判断可控硅损坏，优先尝试指针式万用表（其R×1档电流通常有几十至一百多mA）。
可控硅类型： 以上方法主要针对单向可控硅(SCR)。双向可控硅的测试逻辑类似，但要考虑正负两个方向的触发。
功率和参数： 不同型号、不同功率的可控硅，其触发电流、维持电流等参数差异很大。万用表测试更多是判断基本好坏（生/死测试），无法精确测量参数。
安全操作： 测试前确保器件无残余高压，避免静电损伤。
假触发： 表笔接触G极瞬间的微小杂散干扰电容也可能导致短暂的假触发，观察时要注意是瞬间闪烁还是稳定导通。

通过遵循上述步骤和观察现象，通常可以准确地判断出单向可控硅（SCR）的好坏。当对数字表结果有疑问时，换用指针表是推荐的解决方法。