您是否常在芯片发热测试、PCB板温度分析或金属壳体散热评估中，遇到这样的问题：发光金属表面反光严重，热像仪测温结果飘忽不定？尤其是镀银、铝基板、散热片等表面，发射率低，导致测温数据严重失准？

如果您可以安全地触摸目标，高质量的电工胶带将为您提供最准确的温度读数，并作为测量各种材料发射率值的参考点。换言之，好的正品电工胶带可以提升低发射率物体表面发射

众所周知，发射率是影响红外检测精度的重要参数之一，因各目标表面性质不尽相同，故发射率会有很大差别;若不能准确设置发射率，则会造成测量误差，今天就

发射率是指物体的红外光波的发射率，物体的红外光发射率是不同的，红外测温仪是接收物体发出的红外光谱，所以要把仪器的

为此，我们开发了GS150 Low-E 系统。为避免直接测量上表面由于发射率不确定带来的偏差，采用了玻璃专用点温仪安装在玻璃下方，向上测量没有镀膜的下表面，用得到的玻璃下表面准确温度来对扫描仪测量结果进行修正。

GS150LE 系统具备成熟的 GS150 系统的全部功能，可以在例如弯折、成型和退火等的二次玻璃加工应用中使用非接触式红外温度测量。该新系统设计有自动发射率校正模式，可以根据不同玻璃负荷（例如，镀膜玻璃和非镀膜玻璃，或者不同镀膜类型）的变化完成系统的调整。