OLED面板的测试是一个涵盖多个层面的复杂过程，旨在确保其显示质量、性能、可靠性和寿命。以下是主要的测试环节和方法：

一、关键测试参数与项目

1. 光学特性测试：

   • 亮度 (Luminance)： 测量面板的最大亮度、最小亮度（黑态）、以及不同灰阶下的亮度值。黑态亮度极低是OLED优势，需精确测量。
   • 色度 (Chromaticity)： 测量红、绿、蓝、白等各种颜色在标准色度空间（如CIE 1931 xy）中的坐标。
   • 色域 (Color Gamut)： 测量面板能显示的色彩范围大小，通常以相对于标准色域（如sRGB, DCI-P3）的百分比表示。
   • 对比度 (Contrast Ratio)： 测量最亮白与最暗黑（非点亮区域）的亮度比值。OLED理论上可达近乎无限高。
   • 视角特性 (Viewing Angle)： 测量在不同观看角度下，亮度、色度、对比度的变化程度（色偏、亮度衰减）。
   • 均匀性 (Uniformity)：
     • 亮度均匀性： 检查整个屏幕不同区域的亮度是否一致（肉眼可见差异即Mura）。常用仪器扫描或拍摄分析。
     • 色度均匀性： 检查整个屏幕不同区域的色彩表现是否一致（色温Mura）。
   • Gamma曲线： 测量输入灰阶信号与实际输出亮度的关系曲线，应接近目标Gamma值（如2.2）。
   • 响应时间： 像素从一种状态切换到另一种状态所需的时间。OLED响应时间极快（微秒级），但有时也需测量和验证。

2. 电学特性测试：

   • 电流电压特性： 测量OLED像素单元在不同驱动电压或电流下的发光特性（亮度、效率等）。
   • 功耗 (Power Consumption)： 测量面板在不同显示内容（全白、全黑、特定图片、视频）下的总功耗。
   • 漏电流： 检测非发光状态下的微小电流，影响黑态表现。

3. 图像质量测试 (Image Quality Test)：

   • 缺陷检测 (Defect Inspection)：
     • 亮点 (Bright Dot)： 该熄灭的点常亮（通常由短路引起）。
     • 暗点 (Dark Dot)： 该点亮的点不亮（通常由开路或像素电路故障引起）。
     • 线缺陷 (Line Defect)： 行/列驱动电路或信号线问题导致的整行/列不亮、异常或拖影。
     • Mura： 大面积、低对比度的亮度或色度不均，形状各异（云状、条纹状等），在均一色彩（尤其低灰阶）下易见。
     • 污点/异物 (Spot/Foreign Material)： 面板内部或表面的污染或颗粒。
   • 残影/烧屏 (Image Retention/Burn-in)： 长时间显示静态图像后，画面切换时残留该图像的幽灵痕迹。这是OLED特有的老化和可靠性问题。测试通常涉及长时间显示特定图案（如棋盘格、logo）后进行切换评估。
   • 显示效果评估： 使用标准测试图卡（如SMPTE, ISO）或实际图像/视频，评估清晰度、锐度、层次感、运动模糊、色彩还原准确度等主观画质。

4. 功能与驱动测试：

   • 灰阶控制： 验证所有灰阶是否能正常显示，无跳阶、灰阶丢失或灰阶不连续。
   • 刷新率： 验证面板能在标称的各种刷新率（如60Hz, 120Hz）下正常工作。
   • 接口功能测试： 测试LVDS, MIPI, eDP等信号接口的传输正确性。
   • 触控功能测试 (如果集成)： 测试触控灵敏度、精度、多点触控、防水触控等。

5. 可靠性/寿命测试 (通常需要加速条件)：

   • 高温高湿运行存储： 评估在高温高湿环境下长时间工作或放置后性能的变化。
   • 温度循环： 快速变化的温度应力考验面板材料结合力、连接可靠性。
   • 高温运行寿命： 在高温下持续点亮特定图案，加速老化，评估亮度衰减速度（T50：亮度衰减到初始50%的时间）、颜色偏移等。这是评估OLED寿命的核心测试。
   • 机械应力测试： 如振动、冲击、落球、弯曲（柔性OLED）等，评估结构强度和连接可靠性。
   • 静电放电： 评估面板抗ESD能力。
   • 残影加速测试： 设计特定苛刻条件加速残影出现，评估材料抗性。

6. 微观测试 (实验室/研发)：

   • 电致发光显微镜： 在微观级别直接观察像素发光状况，定位失效点或分析不均匀性。
   • 扫描电子显微镜： 观察薄膜结构、电极形貌、异物的微观状态。

二、常用测试设备

• 光学特性测量：
  • 分光光度计/色彩分析仪： 精确测量点或小区域的亮度、色度、色温等（如Konica Minolta CA系列）。单点测量。
  • 成像亮度计 (CCD/CMOS相机)： 快速拍摄整个屏幕的图像并计算亮度均匀性、色度均匀性、Mura等（如Radiant的ProMetric系列)。面测量首选。
  • 角分布光度计： 用于精确测量不同视角下的亮度、色度。
• 电学特性/功能测试：
  • 源测量单元： 提供精确电流/电压源并测量响应。
  • 系统电源： 提供面板工作电压。
  • 信号发生器/图像发生器： 产生特定的测试图像信号（Pattern Generator）。
  • 万用表/示波器： 基础电信号测量。
  • 自动化测试机台 (ATE - Automatic Test Equipment)： 集成的产线测试系统，可一次性完成多项电性和基础光性测试。
• 缺陷检测：
  • AOI设备： 主要依赖高分辨率工业相机配合照明系统自动检测点/线缺陷、大颗粒等。
  • 成像亮度计： 用于检测Mura类缺陷。
  • 人眼检查： 在特定光照和灰阶图案下，人工目检（如Demura工序前）。
• Demura (De-Mura)校正设备：
  • 补偿数据测量系统： 专门用于高精度测量每个像素或子像素的亮度/色度相对于参考值的偏差。通常使用极高分辨率的成像色度计。
  • 补偿数据烧录系统： 将测量得到的补偿数据烧录到面板内部的存储器或驱动IC中。
• 可靠性测试：
  • 环境试验箱： 提供高温、低温、高湿等稳定环境。
  • 恒温恒湿老化箱： 在特定温湿度下进行高温高湿寿命测试。
  • 温度循环试验箱： 快速改变温度。
  • ESD测试仪： 模拟静电放电。
  • 振动/冲击台： 施加机械应力。

三、测试阶段与环境

• 研发阶段： 深入分析材料、器件特性、驱动方式，测试复杂，设备精密。
• 工程样品阶段： 验证设计、制程可行性和初期性能/可靠性。
• 量产阶段：
  • 在线检测： 在产线关键节点进行快速光学、电学检查（如Cell, Module阶段）。
  • 最终模组检测： 对完成组装的模组进行全面功能、光学和外观检查（电测 + 光测 + AOI/AOI+人眼）。
  • Demura校正： 高端OLED生产中几乎必需的步骤。
  • 可靠性抽检： 按比例进行加速可靠性测试。
  • 出货品质检验： 按抽样标准进行最终出货检验。

总结

OLED面板测试是一个系统工程，从微观材料分析到宏观光学性能评估，从即时功能验证到长时间可靠性考验。现代测试高度依赖自动化设备（ATE, AOI, 成像色度计/亮度计）进行高速、高精度的量化测量，并结合特定的可靠性测试环境和人眼的主观评估。Demura校正 在现代高端OLED制造中尤其关键，它直接关系到用户体验的核心指标——显示均匀性。严格的测试体系是确保OLED面板高性能、高品质和长寿命的基础。

如果你有具体的测试环节、某种设备或某种缺陷想深入了解，可以再提出来。