STM32F103微控制器的ADC（模数转换器）采用逐次逼近型（SAR）工作原理，以下是其核心原理及关键特性：

1. 逐次逼近原理

• 工作流程：ADC内部包含一个逐次逼近寄存器（SAR）和高速比较器。转换时，从最高位（MSB）开始，依次猜测每位是“1”还是“0”，并通过比较器确认该位是否保留。经过12次比较（12位分辨率）后，最终得到数字量结果。

2. 主要组成部分

• 采样保持电路：在转换前对模拟信号进行采样并保持稳定，避免转换期间信号变化。
• 参考电压（VREF+、VREF-）：通常接VDDA（电源电压，如3.3V）和VSSA（地），决定ADC的量程（0~VDDA）。
• 多路复用器：支持16个输入通道（12个外部通道+4个内部信号，如温度传感器）。

3. 关键特性

• 分辨率：12位，输出值范围0~4095。
• 转换时间：最短1μs（时钟为14MHz时），支持单次或连续转换模式。
• 触发源：支持软件触发或外部触发（如定时器、外部中断）。
• 校准功能：上电后需执行校准，以消除内部误差。

4. 工作模式

• 单次模式：触发后仅转换一次。
• 连续模式：自动重复转换，适合持续监控信号。
• 扫描模式：自动按顺序转换多个预配置通道（规则组或注入组）。

5. 数据与配置

• 数据对齐：支持左对齐（便于快速读取高8位）或右对齐（保留全部12位精度）。
• 时钟配置：ADC时钟由PCLK2分频得到，需≤14MHz。
• DMA支持：多通道高速采样时，可通过DMA传输数据，减少CPU干预。

6. 校准与精度

• 校准步骤：通过寄存器启动校准，待校准完成后自动校正内部误差。
• 参考电压稳定性：VDDA的波动会直接影响转换结果，建议增加滤波电路。

总结

STM32F103的ADC通过逐次逼近法实现模拟信号数字化，结合灵活的触发方式、多通道扫描和DMA支持，适用于传感器采集、电池监测等场景。使用时需注意参考电压稳定性、时钟配置及校准操作，以确保精度。