测量可控硅（晶闸管）好坏最常用的方法是使用数字万用表的二极管测试档（或蜂鸣档），通过测试不同引脚间的通断状态来判断其基本特性和好坏。以下是详细的判断方法：

? 核心原理（关键！）

1. 可控硅的基本特性：可控硅可以看作一个受控的单向导通开关。
   • 未触发：阳极(A)到阴极(K)之间电阻很大（几乎不通）。
   • 触发导通：给门极(G)一个短暂的正向触发电流，A-K间即刻导通（电阻变得很小）。
   • 维持导通：导通后，即使移除G极触发信号，只要A-K间电流大于某个值（维持电流 Ih），可控硅就一直维持导通。
   • 关断：当A-K间电流减小到维持电流 Ih 以下，或反向电压加在A-K间，可控硅关断，恢复高阻态。

? 所需工具

• 数字万用表（有二极管测试档/蜂鸣档）
• 镊子或短导线（用于触发门极G）

? 测量步骤与好坏判断（以单向可控硅为例，如BT169, MCR100等）

⚠️ 重要前提

1. 测量前确保可控硅完全断电并放电（尤其是刚从电路板上拆下时）。
2. 了解引脚：大多数单向可控硅引脚排列（面向带字一面，引脚朝下）通常为：
   • 左：阳极（A）
   • 中：门极（G）
   • 右：阴极（K） ? 具体请查阅器件数据手册确定！

? 步骤 1：测试阳极(A)与阴极(K)间

• 万用表黑表笔接阳极(A)，红表笔接阴极(K)。
• 结果： 应显示高阻值（OL 或显示溢出值，无蜂鸣声）。
  • ✅ 好现象： 正向未触发，阻断良好。
  • ❌ 坏现象： 如果导通或有蜂鸣声，说明A-K间击穿短路。

? 步骤 2：测试门极(G)与阴极(K)间（PN结特性）

• 黑表笔接G，红表笔接K。
• 结果： 应显示一个较低的导通压降（通常在0.4V-1.2V左右，有蜂鸣声）。这相当于测量一个正向导通的二极管（PN结）。
  • ✅ 好现象： G-K间正向正常导通。
  • ❌ 坏现象： OL或极高阻值，说明G-K开路损坏；0V或接近0V，说明G-K短路损坏。

? 步骤 3：触发并维持导通状态（这是测量好坏的核心步骤）

1. 准备触发： 黑表笔依然接阳极(A)，红表笔依然接阴极(K)。
2. 触发： 用镊子或导线瞬间短接门极(G)和阳极(A)。这时你会看到万用表读数立即下降到低值（显示一个较小的压降，比如0.8V左右，有蜂鸣声），这表示可控硅已经被触发导通了。
3. 检查维持： 移开触发用的镊子/导线。
4. 结果判断：
   • ✅ 好现象： 移开触发后，万用表继续保持低读数（持续导通），直到表笔断开或电压/电流太低不足以维持。说明可控硅触发后能维持导通。
   • ❌ 坏现象：
     • 在触发时瞬间导通，但一移开触发点立刻又恢复高阻态（OL） --> 说明可控硅无法维持导通（可能是维持电流 Ih 太低或器件本身故障）。
     • 触发点后完全无反应 --> 说明可控硅触发功能失效或完全损坏（但步骤1、2可能又是好的）。

? 步骤 4：测试A-K反向和其他组合

• A-K反向： 红表笔接阳极(A)，黑表笔接阴极(K)。结果应始终是OL或高阻值（无导通）。
  • ❌ 如果正向或反向都导通 --> A-K击穿。
• 其他引脚组合： G-A间、A-G间、K-G间等（除了已经测过的G-K正向外），在未触发时都应显示高阻值（OL）。
  • ❌ 如果任何不应导通的地方导通了 --> 存在短路或漏电。

? 双向可控硅（如BTA16，TRIAC）的测试（简化版）

双向可控硅可以双向触发和导通（相当于两个反并联的单向可控硅加一个公共门极），测试原理类似但更复杂些（需测试双向触发和维持）：

1. 识别引脚： T1，T2，G（主端子T1/T2，门极G）。务必查数据手册确认！
2. 初步阻断：
   • 万用表任意表笔接T1，另一表笔接T2 --> 都应显示OL（高阻）。
   • 万用表任意表笔接T1或T2，另一表笔接G --> 都应显示OL（高阻）。
   • ❌ 有异常导通 --> 损坏。
3. 触发导通测试（一）：（模拟T1向T2触发）
   • 黑表笔接T1，红表笔接T2（开始应为OL）。
   • 用导线短接G和红表笔（即G接T2，对可控硅来说这通常是一个正触发信号）。
   • 移开短接导线后，万用表读数应变低并保持。
4. 触发导通测试（二）：（模拟T2向T1触发）
   • 红表笔接T1，黑表笔接T2（开始应为OL）。
   • 用导线短接G和黑表笔（即G接T2）。
   • 移开短接导线后，万用表读数应变低并保持。
5. G-T1结测试：
   • 黑表笔接G，红表笔接T1（或反过来测试一次） --> 应有一个方向显示较低的PN结压降（通常是G到T1），另一个方向OL。
   • 结果应与二极管特性一致（单向导通）。

? 重要提示（判断好坏的关键补充）

1. 维持电流问题： 这是万用表测量最大的局限性！很多可控硅的维持电流 Ih 只有几毫安到几十毫安。而某些万用表二极管档的输出电流可能小于被测可控硅的 Ih。这会导致：
   • 测试步骤3中，触发后能导通，但一移开触发点就立刻关断（无法维持）。这不一定是可控硅坏了，可能是万用表提供的电流太小。
   • 解决方法： 如果怀疑是电流问题，可尝试用指针式万用表的 R×1Ω 或 R×10Ω 档测试（其输出电流较大），或者搭建一个简单的电源+电阻+开关+灯泡电路来验证。
2. 反向漏电流： 万用表很难精确测量微小的反向漏电流。如果怀疑器件存在较大漏电，需要更专业的测试设备。
3. 触发灵敏度： 万用表无法精确测量可控硅的最小触发电压（Vgt）和最小触发电流（Igt）。一个能用万用表触发但实际电路触发不了的器件，在应用中仍是坏的。
4. 封装散热： 大功率可控硅可能需要配合散热片才能正常工作。特别是测试大电流可控硅时，不加散热片可能会因为过热而损坏或在短暂测试中表现异常。
5. 结合电路判断： 如果测试结果模棱两可（比如维持电流问题不好判断），最可靠的方法是在电路中实际通电测试。如果器件在电路中无法按预期触发或关断，或者过热，即使静态测试似乎正常，也应视为损坏。
6. 仔细阅读手册： 务必对照具体型号的数据手册确认引脚定义、测试条件及参数（如 Ih）。

? 总结判断标准（针对单向可控硅）

1. A-K正向未触发：高阻（OL）。
2. A-K反向：高阻（OL）。
3. G-K正向：导通（显示PN结压降）。
4. 其他未触发组合：高阻（OL）。
5. 触发A-G后：A-K立即导通（低阻）。
6. 移除G触发后：A-K保持导通（只要万用表电流能维持）⚠️。

? 重要提示

对于小功率可控硅（Ih较低），数字万用表测试通常是有效的。对于中、大功率可控硅或万用表测试无法维持的情况，结合实际电路测试更可靠。万用表测试主要用于判断明显的短路、开路、触发及维持功能（条件允许时）是否正常。