STM32F103CB 的 ADC 模块是 12 位分辨率，理论上的最小量化步长为 ( V{REF} / 4096 )（例如，若参考电压 ( V{REF} = 3.3V )，步长约为 0.8mV）。但在实际应用中，ADC 的 绝对精度 会受到以下因素影响，通常需要结合数据手册和实际设计优化：

影响 ADC 精度的主要因素：

1. 参考电压（VREF）稳定性

   • 内部参考电压（VREFINT）可能存在漂移（受温度、电源噪声影响）。
   • 建议：对精度要求高时，使用外部高精度参考电压源（如 TL431、REF3033 等）。

2. 电源噪声

   • 电源纹波会直接影响 ADC 转换结果。
   • 建议：为模拟部分（VDDA、VSSA）增加 LC 滤波或低噪声 LDO（如 TPS7A47）。

3. 信号源阻抗

   • 高阻抗信号源会导致采样时间不足，电容充电不完全。
   • 建议：输入信号源阻抗 ≤ 10kΩ，或增加外部缓冲器（如运放跟随电路）。

4. 采样时间配置

   • 采样时间过短会导致电荷未充满内部采样电容。
   • 建议：根据信号源阻抗设置 SAMPLING_TIME（例如，阻抗高时选择更长的采样周期）。

5. PCB 布局

   • 模拟信号走线靠近数字信号会导致耦合噪声。
   • 建议：分离模拟和数字地，缩短信号走线，避免平行长距离布线。

6. 温度漂移

   • ADC 的偏移和增益误差会随温度变化。
   • 建议：定期校准或在温度变化大的场景中使用软件补偿算法。

优化精度的措施：

• 启用 ADC 校准：
  上电后执行一次内部校准（调用 HAL_ADCEx_Calibration_Start()）。

• 软件滤波：
  使用多次采样取平均（如移动平均、中值滤波）降低随机噪声。

• 避免同步干扰：
  在 ADC 转换期间关闭高频外设（如 PWM、时钟切换），减少开关噪声。

• 使用 DMA 传输：
  通过 DMA 连续采样可避免 CPU 介入导致的时序扰动。

数据手册关键参数（典型值）：

• INL（积分非线性）：±2 LSB
• DNL（微分非线性）：±1 LSB
• 总未调整误差：±4 LSB（约 ±3.2mV @3.3V）

总结：

• 理论分辨率：12 位（0.8mV @3.3V）。
• 实际精度：通常在 ±4 LSB 以内，通过优化设计可接近 ±2 LSB。
• 关键点：参考电压质量、信号链设计、采样时间配置和噪声抑制是提升精度的核心。