有朋友提问，下面的代码为什么在DC里可以综合成DFF，而在FPGA上却综合成了latch。

当 E = 1 时，latch直传（transparent），D端信号的变化会即时反应在Q端；

目前通用的Latch-up测试标准是JESD78E。该标准中将Latch-up测试分为两种：1.电流测试 I-test，用于测试非电源管脚；2.电压测试 V-test 用于测试电源管脚。

ESD，EOS，Latch-up都是芯片在制造，运输，使用过程中的风险源，他们会对芯片造成不同程度的物理损伤。

锁存器（ latch）是电平触发的存储单元，数据存储的状态取决于输入时钟（或者使能）信号的电平值，仅当锁存器处于使能状态时，输出才会随着数据输入发生变化。

锁存器（Latch），是电平触发的存储单元，数据存储的动作取决于输入时钟（或者使能）信号的电平值。仅当锁存器处于使能状态时，输出才会随着数据输入发生变化。

本篇主要针对CMOS电平，详细介绍一下CMOS的闩锁效应。 1、Latch up 闩锁效应是指CMOS电路中固有的寄生可控硅结构（双极晶体管）被触发导通，在电源和地之间存在一个低阻抗大电流通路，导致