×

MCU提高ADC采样精度的几种方案

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:68.13KB | 2021-10-25

分享资料个

1、开启ADC以后，延时一段时间，再采样，如果是连续采样的话，开始的几百个数据建议丢弃。原因就是开启ADC的瞬间，电压肯定是在波动状态的，这个时候采样肯定有问题。2、过采样。如果采样频率高于信号最高频率的两倍，这种采样被称为过采样。（奈奎斯特采样定理-香农采样定理）即尽可能快地采样数据，比如之前是1s采1次，现在做成100ms采1次，并把缓存10次的数据求平均。3、使用基准电压，可以用外部基准电压或者内部基准电压。4、提高电源稳定性，模拟电源VDDA单独供电。5、硬件上在模拟输入端加滤波电路。6
下载并关注上传者 开通VIP，低至0.08元下载/次

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !