×

EV_HC32F460_ADC调试

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:0.36 MB | 2021-11-23

孙成红

分享资料个

EV_HC32F460_ADC调试简介HC32F460 系列 MCU 内部集成 ADC1 和 ADC2 两个 ADC 模块(系统框图如图 2-1),挂载于AHB-APB(APB3)总线,可配置 12 位、 10 位和 8 位分辨率,支持最多 16 个外部模拟输入通道和 1 个内部基准电压/8bitDAC 输出的检测通道。这些模拟输入通道可以任意组合成一个序列(序列 A 或序列 B),一个序列可以进行单次扫描(包括两个动作:采样和转换),或连续扫描。支持对任意指定通道进行连续多次扫描,并对转换结果进行

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !