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在STM32系列中使用CRC外设
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2023-08-01
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循环冗余校验（CRC）技术用于检测数字数据中的错误，但在检测到错误时不进行校正。该 技术旨在检查数据传输或数据存储的完整性。在确保数据可靠性方面，CRC技术功能强大且 易于实施。该技术的诊断覆盖范围可满足基本安全标准要求。这就是认证符合IEC 60335-1 和 IEC 607030-1 标准（称为“B 级”要求）的ST固件时，在Flash内容完整性自检检查 中使用CRC功能的原因。更多信息，请参阅应用笔记AN3307和适用于不同系列产品的相关 固件包。当CRC校验和信息必须由链接器直接放入用户代码中时（主要以CRC描述符数据表 的格式），建议在编译器手册中检查所有必要的CRC设置。 CRC以多项式算法为基础。计算GF（2）中一个多项式除以另一个多项式的余数。余数被称 为校验和，而被除数是数据，除数是生成多项式。 注： GF（2）（两元素伽罗瓦域）中的多项式是单变量x的多项式，其系数为0或1。 本应用笔记描述了嵌入在所有STM32系列（F0、F1、F2、F3、F4、L1）中的循环冗余校验外 设的功能，以及配置该外设所需的步骤。
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