×

DFT分步法原理分析

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.65 MB | 2017-11-11

分享资料个

　　随着芯片规模的增大，低功耗不仅是在功能与性能方面对设计者的挑战越来越大，同时对于测试而言，随着SCAN　CELL的增多，在SCAN测试时，芯片的功耗也会增大。功耗越大，则芯片的温度升高，导致芯片内部的电性参数发生偏移，扫描链测试失败。这对DFT（Design for Test）以及ATPCJ（Automatic Test Pattern Ceneration）提出了更高的挑战。

DFT分步法原理分析

下载并关注上传者 开通VIP，低至0.08元下载/次

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !