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边界扫描测试的基本原理及其测试系统的设计
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2017-12-01
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随着超大规模集成电路（VLSI）、表面安装器件（SMD）、多层印制电路板（MPCB）等技术的发展，电路板的常规测试方式面临挑战。介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理，提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现，并着重介绍了JTAG总线控制器的设计。
边界扫描测试的基本原理
边界扫描测试的物理基础是IEEEll49．1测试总线和设计在集成电路内的边界扫描结构。集成电路边界结构示意图如图1所示。
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