本文档的主要内容详细介绍的是数字电路可测试性量测的学习课件免费下载包括了:
可测试性(Testability)包含两个基本概念:
可控制性(Controllability)
通过控制芯片输入引脚(primary inputs)的信号或状态,设置电路内部某一支路为0或1的难易程度。
可观测性(Observability)
通过输出引脚(primary output)观察电路芯片内部某一支路状态的难易程度
可测试性量测的基本思想和发展
在现代控制理论中,针对某些状态变量不受控制的问题,建立离散时间控制系统方程,并给出求解可控制性的条件,同时必须从测量或观测的结果中提取关于系统状态的信息,在求解可控制性的条件下,得到可观测性的理论结果。
非概率模型测度:采用确定性方法
根据确定性的规则计算电路支路置“0”或“1”的难易
概率模型测度:采用随机概率方法
用支路上“0”或“1”出现的统计概率表示可控制的难易
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