横向型与垂直型MOSFET简介

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描述

横向型MOSFET,又称之为横向导电型的MOSFET,结构如下图所示。这里横向的意思是指电流的流动方向与晶圆衬底之间的方向。在横向型MOSFET的晶胞结构中,电流的流动方向是与晶圆衬底的横截面方向保持平行的,因此称之为横向型MOSFET。下图中的红线方向就是示意的在横向型MOSFET中电流的流动方向。

SiC

Source,源极,绿色的区域。Drain,漏极,黄色的区域。Gate,栅极蓝色的区域。三个都是在芯片的上表面,金属的电极片,用于导电和加压。

在三个极下面的很大的区域是衬底,这里的结构中的是P型衬底。

灰色区域是反型层和导电沟道的区域。当我们给栅极和源极施加一个正向电压的时候,栅极于下面与衬底区域的接触面,由原来的耗尽层逐渐发生变化,排斥空穴,吸引电子,参杂的电子聚集在该区域,形成了多子导电区域,也就是反型层,能够导通电流。如下图所示,加压前与加压后的变化。

SiC

加压前

SiC

加压后

当我们在漏极加一个电压源和负载的时候,就会有电流从漏极,穿过N+区域,然后再经过反型层的沟道,再经过源极形成回路。整个MOSFET就处于导通状态。如下图所示。

SiC

垂直型MOSFET,又称为垂直导电型MOSFET,其结构如下图所示。对比横向型的定义和结构可以看到,垂直型的意思是指电流的流动方向与晶圆衬底横截面方向相互垂直。对应图中的电流(红线)是从底面的漏极垂直向上,依次经过了漏极、衬底、N Drift、导电沟道、N+区域到达源极。

Source:源极,上表面第一层绿色区域。Gate,栅极,蓝色的区域。Drain,漏极,最下层灰色区域,晶圆衬底背面。

SiC

沟道区域,是和源极和栅极相关,两者通过 P base区域连接在一起。通过在源极和栅极之间施加电压,就能够形成沟道区域,沟道区域在栅极下方一个比较窄的区域,如下图所示。图中的黄色区域就是加压后形成的反型层,导通电流。

SiC

在漏极和源极之间施加电压的时候,整个电场会施加落在N Drift区域(N型的漂移区)。可以通过调整N Drift区域的掺杂浓度和厚度来实现。掺杂浓度提高,厚度就可以做薄一点,就可以承受较高的电压;掺杂浓度降低,就需要把漂移区域的厚度做厚一点才能承受较高电压。(所以为什么会听到有的硅片材料用的是轻掺还是重掺的说法)。如果用SiC材料来做漂移区就会有更好的优势,SiC的临界击穿电场的强度Ec,是硅的10倍左右。简单做个比较,同样的电压等级,用SiC材料来做可能只需要硅材料的1/10厚就能够实现,器件晶胞尺寸大大减小。同时,因为厚度非常薄,电阻量就可以做到非常低(电流流过的路径降低,电阻降低)。所以SiC的MOSFET在电压上面比硅材料有天然的优势。

另外整个垂直结构中N Drift区域中可以全是导通电流,电流的密度非常高,可以不用做的太小,充分利用到面积的优势,提高电流、电压等级,如下图所示。

SiC

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