模拟技术
六 雪崩强度
雪崩强度是MOSFET的一种特性。在MOSFET的漏极和源极之间施加超过VDSS的电压,但是MOSFET的性能没有被破坏。此时施加在其上的能量称为雪崩能量[Avalanche energy],流过的电流称为雪崩电流[Avalanche current]。有些MOSFET的spec中不保证雪崩能力。
下图是一个测量MOSFET雪崩能力的测试电路。它利用MOSFET断开的瞬间,电感所存储的能量瞬间释放去测量MOSFET的雪崩能量。雪崩能量的计算公式和波形也在下面有展示。
下图是BUK7T12-55B的雪崩曲线。横轴是导致雪崩效应的脉冲电流持续时间,纵轴是雪崩电流值。
可以看到极限值表格中的Id-max=61.8A是左边红色箭头所指值。
这已经是在很极端的条件下(Tj=25℃)、脉冲电流时间很短(1us)时MOSFET可以承受的最大电流。实际使用场景中,Tj肯定比室温高,电流很有可能是持续的直流电流,或者持续时间更长的脉冲电流。
通常一个雪崩事件是一个三角脉冲波形。因此它的平均功率是:
通常MOSFET的击穿电压是极限电压的130%。在极限表格中可以查到BUK7T12-55B的Vds-max=55V。因此对于一个60us的脉冲。它的最大雪崩能量是
P=0.5 x 55V x 1.3 x 61.8A x 60us=133mJ。此值和极限值表格中的129mJ很接近了。
七 安全工作区域SOA
下图是BUK7T12-55B的安全工作区域,这是datasheet中很重要的一个曲线。很遗憾,之前我都没关注过它。它表明MOSFET允许的电压、工作电流和时间的包络曲线。这些值是针对MOSFET的焊接衬底温度Tmb=25℃,并且电流脉冲是单一脉冲的情况。
通过曲线可以看出:即使是直流电流,随着Vds电压的增加,Id流过的电流能力也在降低。
八 热特性
首先说明2个概念。一个是热阻Rth,它是稳态状态下测量出的器件阻碍热量流动的能力。另一个概念是热阻抗Zth,它是器件对瞬时热事件的响应。在直流条件下,Rth=Zth。下图是BUK7T12-55B的Rth和Zth曲线。
功率损耗带来的温升计算公式如下:
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