电子说
什么是TLP测试
我们比较熟悉的ESD模型和评估手段是人体模型HBM、机器模型MM、充电模型CDM,IEC模式等,这些静电模型直接模拟了现实中的某种静电形式。
TLP:Transmission Line Pulse,传输线脉冲与以上模型不同,并非模拟现实中的静电形式,而是通过纳秒级别方波脉冲,获得I-V曲线的方式,虽然不能完全模拟现实情况,但是具有在记录失效级别的同时也能获得芯片具体表现的优势。
芯片的具体表现也就是阻抗特性=电压/电流(I-V曲线),可通过持续增加电压直到芯片损坏得到,因此常常在芯片研发阶段使用,以获得防护器件的关键性能参数,便于在生产制造过程中调整相关的设计,从根本上提高产品的ESD防护能力,保证良率。
TLP short pulse
如下图所示,TLP 测试使用短脉冲的方波(比如100ns)且持续增加的形式进行测试,占空比小,产生热量少,最终得到Turn-on time,Snapback voltage,Performance changes with rise time(比如2ns,10ns等)TLP测试的脉宽一般为100ns或者30-500ns(超快TLP为1ns-10ns), 上升时间一般0.2ns-10ns。不管是封装好的芯片还是芯片晶圆都可以进行TLP测试。
TLP如何工作
电源给左边的cable 充电,充好电开启TLP的开关,到DUT,从而产生电压。Charger line cable 长度决定脉冲的宽度,上升沿决定于TLP开关后面的低通滤波器。
TLP如何测量
分别使用电压探头和电流探头测量DUT侧电压和电流,通过电压/电流就可以得到阻抗等信息。
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