匀胶速度影响光刻胶的哪些性质?

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匀胶是光刻中比较重要的一步,而旋涂速度是匀胶中至关重要的参数,那么我们在匀胶时,是如何确定匀胶速度呢?它影响光刻胶的哪些性质?

匀胶的过程?

将一定量的光刻胶滴到衬底的中心,先以较低的速度旋转,旋转产生的离心力使光刻胶从中心到边缘开始流动,并在衬底上初步铺展。随后迅速提高转速,离心力变大,多余的光刻胶被甩出,光刻胶薄膜变薄;树脂上方的空气流动使光刻胶溶剂迅速蒸发,有助于形成了均匀的光刻胶薄膜。

旋转速度对胶厚的影响

首先,旋转速度影响的是匀胶时的离心力,公式为:

晶圆

其中:

m 是光刻胶质量。

r 是旋转半径。

ω 是角速度,(单位:rad/s)

ω与转速的关系如下:

晶圆

其中 N 是每分钟转数(rpm),由上面两个公式可以看出,转速越大,角速度越大,那么离心力越大。而离心力越大,光刻胶被推向衬底边缘的力就越大,涂层就越薄,离心力与光刻胶厚度成反比。

那么光刻胶厚度与转速的公式为:

晶圆

ℎ 是光刻胶的厚度。

N 是旋涂速度(rpm/每分钟)。

k 是光刻胶与设备的特性等所决定的。如果在其他情况不变的情况下,光刻胶的厚度与转速的二次方成反比。

旋转速度对均匀性的影响

光刻胶在高速旋转时,上方的空气流动对于匀胶的均匀性影响很大。而流体又分为层流或湍流,用雷诺数表示。根据公式:

晶圆

Re为雷诺数, �ω 是衬底的角速度(rad/s),�r 是衬底的半径(m),而 �v 是空气的运动粘度。通常,空气的运动粘度在标准大气压下和室温(约20°C)时大约是1.56×10-5m2/s。从公式可以看出,晶圆尺寸越大,转速越快,晶圆上方流体的雷诺数越大。

晶圆

在旋涂过程中,通常可以使用上面的公式来估算雷诺数,以确定流体流动的特性。根据经验,当雷诺数Re大于302000时,会被定义为过度湍流,那么光刻胶的均匀性会大打折扣。因此,旋转速度不能过高。

举个例子,以一片12inch的晶圆(半径0.15m)为例,要保证良好的均匀性,

0.15x 0.15ω/1.56×10-5≤302000

则角速度w≤209.4

转化为转速N≤2000

也就是说,12inch晶圆在匀胶时最大转速不要超过2000转,2000转以上可能就会出现光刻胶均匀性下降的风险。其他尺寸晶圆的最高匀胶速度以此类推。

最后,匀胶的时间不宜过长,因为随着匀胶时间的增加,光刻胶中的溶剂在不断地挥发。随着时间延长,膜层开始干燥,这会影响其均匀性和质量,增加时间成本,因此根据经验,5微米以下的薄胶,匀胶总时间最好不要超过一分钟。

审核编辑:汤梓红

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