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智能机内测试研究综述
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2009-07-08
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机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术，已大量应用于当代航空系统和武器装备中。但虚警问题是困扰BIT应用的重大难题，并严重影响着武器装备的战备完好性和全寿命周期费用。因此，为从根本上解决BIT的虚警问题，智能BIT技术就成为测试领域21世纪的重点研究项目之一。首先简要介绍了BIT虚警的两个主要产生原因，然后重点概述了智能BIT的发展状况，并分析了当前研究方法中存在的不足，最后在研究BIT不确定性的基础上提出了基于粗糙集的智能BIT故障诊断新技术，并指出了该技术中需要研究的若干关键问题。
内测试(Built-in Test，简称BIT)技术是系统、设备内部提供的检测、隔离故障的自动测试能力，是复杂系统或设备整体设计、分系统设计、状态监测、故障诊断和维修决策等方面的关键共性技术[1,2]。国外自从20世纪从70年代开展BIT技术研究以来，不仅在理论上做了大量积累，而且结合型号任务在应用上取得了一系列研究成果。
内测试(Built-in Test，简称BIT)技术是系统、设备内部提供的检测、隔离故障的自动测试能力，是复杂系统或设备整体设计、分系统设计、状态监测、故障诊断和维修决策等方面的关键共性技术[1,2]。国外自从20世纪从70年代开展BIT技术研究以来，不仅在理论上做了大量积累，而且结合型号任务在应用上取得了一系列研究成果。
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