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基于BDD结构和布尔差分思想电路测试应用
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2017-09-08
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引入布尔差分的思想，对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销，并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明，本方案可以有效地进行测试生成。
在数字系统的测试中，ATPG是对测试电路产生测试向量的过程。通常ATPG算法首先给电路插入一个故障;然后通过在电路输入端激活这个故障，并将其产生的响应通过电路传播到输出端。若输出信号与无故障电路的期望值不同，就可以检测到这个故障了。
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