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针对FPGA可编程逻辑模块的离线BIST测试方法
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2017-11-08
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随着FPGA在现代电子系统中应用的不断增多．FPGA的测试技术也得到非常快的发展。其中，内建白测试（BIST）的方法已经成为一种主流的解决方案。BIST方法一般来说可以分为两大类，一类是离线BIST，另一类是在线BIST。离线BIST测试方法，是指测试在被测电路退出原先的T作状态，冉运用BIST的方法测试被测电路。这种测试也叫做T厂测试。FPGA的基本结构包括如下几个模块：可编程输入／输出单元（IOB）、可编程逻辑模块（PLB）、嵌入式RAM、可编程互联资源等。本文重点讨论利用离线BIST方法测试可编程逻辑模块。
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