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基于单片开关电源的失效分析（详解）

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.3 MB | 2017-12-07

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　　分析和解决了开关电源TPS54350在小负载应用电路下的失效问题。通过对失效器件进行外观镜检、/-V曲线测试、X线检查，对典型应用电路的分析和异常测试波形分析找到了器件失效的根本原因。TPS54350典型应用电路在下电时存在反灌电流，且外接欠压保护电阻，由此引起的输入电压波动对输出使能ENA端间接干扰，从而使器件误启动，造成输出端电流反灌入器件，导致器件内部电路出现闩锁失效。采用TPS54550替换TPS54350（ ENA端抗干扰能力更强），并去除UVLO端欠压保护电阻，解决失效问题，稳定地实现12 V转SV，电流约为100 mA的小负载应用。

　　非破坏性分析

　　对失效器件进行外观镜检，没有发现有异常情况：对芯片进行/-V曲线测试，与正常器件对比，也没有发现有异常；对器件进行X线检查，也没有异常，如图1所示。

基于单片开关电源的失效分析（详解）

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