这款 40V、2.8mΩ、5mm × 6mm SON NexFET™ 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率转换应用中的损耗。
*附件:CSD18513Q5A 40V N 沟道 NexFET 功率 MOSFET 数据表.pdf
特性
- 低 R
DS(开启) - Low-Thermal Resistance
- 雪崩评级
- 逻辑电平
- 无铅端子电镀
- 符合 RoHS 标准
- 无卤素
- SON 5 mm × 6 mm 塑料封装
参数

方框图

1. 产品概述
- 型号:CSD18513Q5A
- 类型:40V N沟道 NexFET 功率MOSFET
- 封装:SON 5mm × 6mm 塑料封装
- 特点:低导通电阻(R_DS(ON))、低热阻、雪崩额定、逻辑电平、无铅端子镀层、RoHS合规、无卤素
2. 应用领域
3. 电气特性

3.1 静态特性
- 漏源电压(V_DS) :40V
- 栅源阈值电压(V_GS(th)) :1.5V 至 2.4V
- 导通电阻(R_DS(on)) :
- V_GS = 4.5V时:4.1mΩ 至 5.3mΩ
- V_GS = 10V时:2.8mΩ 至 3.4mΩ
- 漏源泄漏电流(I_DSS) :1μA(V_GS = 0V, V_DS = 32V)
- 栅源泄漏电流(I_GSS) :100nA(V_DS = 0V, V_GS = 20V)
3.2 动态特性
- 输入电容(C_iss) :3300pF 至 4280pF(V_GS = 0V, V_DS = 20V, f = 1MHz)
- 输出电容(C_oss) :333pF 至 433pF
- 反向传输电容(C_rss) :178pF 至 231pF
- 栅极总电荷(Q_g) :
- V_DS = 20V, I_D = 19A时:
- V_GS = 4.5V:23nC 至 30nC
- V_GS = 10V:45nC 至 59nC
- 栅极到漏极电荷(Q_gd) :8.8nC
- 开启延迟时间(t_d(on)) :6ns
- 上升时间(t_r) :12ns
- 关断延迟时间(t_d(off)) :21ns
- 下降时间(t_f) :4ns
3.3 二极管特性
- 二极管正向电压(V_SD) :0.8V 至 1.0V(I_SD = 19A, V_GS = 0V)
- 反向恢复电荷(Q_rr) :12nC(V_DS = 20V, I_F = 19A, di/dt = 300A/μs)
- 反向恢复时间(t_rr) :12ns
4. 热信息
- 结到壳热阻(R_θJC) :1.3°C/W
- 结到环境热阻(R_θJA) :
- 典型值:50°C/W(安装在1in² 2oz Cu板上)
- 最大值:125°C/W(安装在最小2oz Cu板上)
5. 绝对最大额定值
- 漏源电压(V_DS) :40V
- 栅源电压(V_GS) :±20V
- 连续漏电流(I_D) :
- 封装限制:100A
- 硅限制(T_C = 25°C):124A
- 脉冲漏电流(I_DM) :400A
- 功率耗散(P_D) :
- 工作结温(T_J)、存储温度(T_stg) :-55°C 至 150°C
- 雪崩能量(E_AS) :106mJ(单脉冲,I_D = 46A,L = 0.1mH,R_G = 25Ω)
6. 封装与订购信息
- 封装尺寸:详细尺寸图见数据表第8-9页
- 订购信息:
- CSD18513Q5A:2500片/13英寸卷带
- CSD18513Q5AT:250片/7英寸卷带