‌DRV8351-SEP 汽车级三相BLDC栅极驱动器技术文档总结

描述

DRV8351-SEP是一款三相半桥栅极驱动器,能够驱动高侧和低侧N沟道功率MOSFET。DRV8351-SEPD 使用集成自举二极管和用于高端 MOSFET 的外部电容器产生正确的栅极驱动电压。GVDD 用于为低侧 MOSFET 产生栅极驱动电压。栅极驱动架构支持高达 750mA 的峰值源电流和 1.5A 灌电流。
*附件:drv8351-sep.pdf

相位引脚 SHx 能够承受显着的负电压瞬变;而高侧栅极驱动器电源 BSTx 和 GHx 可以支持更高的正电压瞬变 (57.5V) abs 最大电压,从而提高系统的鲁棒性。小传播延迟和延迟匹配规格最大限度地减少了死区时间要求,从而进一步提高了效率。通过 GVDD 和 BST 欠压锁定为低侧和高侧提供欠压保护。

特性

  • 40V 三相半桥栅极驱动器
    • 驱动 N 沟道 MOSFET (NMOS)
    • 栅极驱动器电源 (GVDD):5-15V
    • MOSFET 电源 (SHx) 支持高达 40V 的电压
  • 辐射性能
    • 耐 SEL、SEB 和 SET 高达 LET = 43 MeV-cm2 /mg
    • SET 和 SEFI 表征高达 LET = 43 MeV-cm2 /mg
    • 每批硅片提供 TID 保证,最高可达 30 krad(Si)
    • TID 表征高达 30 krad(Si)
    • 在 SEE 和 SEB 期间观察到交叉传导事件。有关更多详细信息,请参阅 SEE 报告
  • 空间增强塑料(太空 EP):
    • 受控基线
    • 一个装配/测试站点
    • 一个制造现场
    • 延长产品生命周期
    • 产品可追溯性
  • 集成自举二极管
  • 支持反相和同相 INLx 输入
  • Bootstrap 栅极驱动架构
    • 750mA 源电流
    • 1.5- 灌电流
  • SHx引脚上的低漏电流(<55μA)
  • 绝对最大 BSTx 电压高达 57.5V
  • 在SHx上支持高达-22V的负瞬变
  • 固定死区时间插入 200nS
  • 支持 3.3V 和 5V 逻辑输入,最大绝对值为 20V
  • 4nS典型传播延迟匹配
  • 紧凑的 TSSOP 封装
  • 使用电源块进行高效的系统设计
  • 集成保护功能
    • BST 欠压锁定 (BSTUV)
    • GVDD 欠压 (GVDDUV)

参数
栅极驱动器

方框图
栅极驱动器

一、核心产品概述

  • 型号‌:DRV8351-SEP(AEC-Q100认证,符合汽车及航天应用标准)
  • 功能‌:集成自举二极管的三相半桥栅极驱动器,专为驱动N沟道MOSFET设计
  • 关键特性‌:
    • 宽电压支持‌:GVDD供电5-15V,MOSFET电源(SHx)支持40V
    • 高驱动能力‌:750mA源电流/1.5A灌电流峰值输出
    • 抗辐射设计‌:LET=43 MeV-cm²/mg下抗单粒子效应,30krad(Si)总剂量耐受
    • 保护功能‌:BST/GVDD欠压锁定、-22V负瞬态耐受(SHx引脚)
    • 低延迟‌:4ns典型传播延迟匹配,固定200ns死区时间
    • 封装‌:20引脚TSSOP(6.5×4.4mm)

二、关键技术创新

  1. 双输入模式
    • 支持INLx引脚可配置为同相/反相输入(通过不同型号实现)
  2. 抗辐射架构
    • 采用Space-EP工艺,单晶圆厂/单测试站点全流程管控
  3. 动态保护机制
    • 独立比较器监测每相BST电压,欠压时自动关闭对应GHx输出
    • 负瞬态耐受能力(SHx引脚支持-22V/2μs瞬态)

三、典型应用场景

  • 航天/国防‌:推进器万向节、天线指向机构
  • 工业‌:无刷电机控制、反应轮驱动
  • 医疗设备‌:精密运动控制系统

四、电气特性与设计要点

参数条件典型值
工作温度范围结温-55°C ~ 150°C
GVDD静态电流无负载800μA(12V)
自举二极管正向压降IBOOT=100mA0.7V
传播延迟VGVDD=12V125ns
死区时间固定值200ns

设计建议‌:

  1. 电容选型
    • 自举电容≥100nF(建议X7R材质)
    • GVDD去耦电容≥1μF(与100nF高频电容并联)
  2. 布局要点
    • 栅极电阻尽量靠近MOSFET放置
    • 功率回路面积最小化以降低寄生电感

五、辐射性能数据

  • 单粒子效应‌:LET=43 MeV-cm²/mg下未发生闩锁(但存在交叉导通现象,需外置保护电路)
  • 总剂量测试‌:30krad(Si)下参数漂移<10%
  • SEE报告‌:需参考独立测试文档获取详细辐射事件数据
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