基于EVBUM2909G-EVK评估板数据手册的技术解析与应用指南

onsemi EVBUM2909G-EVK子卡 是专为离散双脉冲测试仪EVBUM2897设计的扩展套件。onsemi子卡具有电路板边缘连接器以及被测设备1和被测设备2测试点，特别适用于分立MOSFET测试。虽然不包括MOSFET，但可以使用onsemi的分立器件组装这些板卡。该扩展套件支持多种软件包类型，包括TO247-3L、TO247-4L、D2PAK-7L、TOLL、POWER88和BPAK-7。

数据手册：*附件：onsemi EVBUM2909G-EVK子卡数据手册.pdf

特性

• 包括电路板边缘连接器，便于组装
• 配备用于被测设备1和DUT2分立MOSFET的测试点
• 不包括MOSFET；与onsemi分立器件兼容
• 支持TO247-3L、TO247-4L、D2PAK-7L、TOLL、POWER88、BPAK-7

‌基于EVBUM2909G-EVK评估板数据手册的技术解析与应用指南‌

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一、产品概述

‌EVBUM2909G-EVK‌是安森美（onsemi）推出的分立器件双脉冲测试扩展子卡套件，作为EVBUM2897主测试平台的配套组件。该套件通过模块化设计，为用户提供灵活的分立功率器件测试解决方案。子卡预装板边连接器和测试点，支持多种封装类型功率器件的快速评估。

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二、核心配置详解

1. ‌子卡套件组成‌
   • TO247-3L封装适配卡 ×1
   • TO247-4L封装适配卡 ×1
   • TOLL封装适配卡 ×1
   • BPAK-7封装适配卡 ×1
   • D2PAK-7L封装适配卡 ×1
   • POWER88封装适配卡 ×1
2. ‌硬件特性‌
   • 标准化板对板连接接口
   • 预留DUT1/DUT2测试点位
   • 兼容安森美全系分立MOSFET（需用户自备器件）

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三、典型应用场景

1. ‌功率器件动态特性测试‌
   • 开关损耗测量
   • 反向恢复特性分析
   • 栅极电荷特性评估
2. ‌电源模块开发验证‌
   • 同步整流电路优化
   • 电机驱动电路测试
   • 光伏逆变器性能验证
3. ‌可靠性测试‌
   • 高温环境下的稳定性测试
   • 长期运行寿命评估

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四、设计要点说明

1. ‌安全规范‌
   • 仅限具备电气工程背景的专业人员在实验室环境使用
   • 需严格遵循静电防护规范
   • 禁止用于医疗设备或人体植入设备
2. ‌硬件配置建议‌
   • 推荐配合EVBUM2897主控板使用
   • 测试时应配备适当的散热装置
   • 建议使用原厂推荐的分立器件型号

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五、技术优势分析

1. ‌模块化设计‌
   • 支持多种封装类型的快速切换
   • 减少重复布线时间，提升测试效率
2. ‌标准化接口‌
   • 确保测试结果的一致性和可重复性
   • 便于多通道测试系统集成
3. ‌完整生态系统‌
   • 与安森美产品线完全兼容
   • 提供专业的技术文档支持

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六、开发注意事项

1. ‌认证要求‌
   • 本评估板未获得FCC、CE、UL等认证
   • 不适用于最终消费级产品直接使用
2. ‌法律声明‌
   • 按"现状"提供，不附带任何明示或暗示担保
   • 用户需自行承担使用风险和相关法律责任