专治“离子迁移”!东亚合成IXE离子捕捉剂如何守护IC封装可靠性?

描述

导语:​ 在高温高湿的严苛环境下,IC封装内部的微量离子杂质如同定时炸弹,可能引发迁移、漏电甚至短路。选择一款高效的离子捕捉剂,是提升电子元器件寿命的关键。本文将深度解析日本东亚合成IXE系列产品的技术原理与选型要点,为您的可靠性设计保驾护航。

一、可靠性杀手:离子迁移的根源与危害

电子材料(如环氧模塑料、包封胶、油墨)在制备过程中,难免会引入Na⁺、Cl⁻等杂质离子。这些离子在通电、吸湿后活性大增,会沿着材料内部或界面迁移:

  • 阴离子(如Cl⁻):攻击铝/铜布线,导致腐蚀、开路。
  • 阳离子(如Na⁺):在电场作用下向阴极移动,形成树枝状金属晶须(迁移),导致绝缘下降、短路。

传统解决方案

(如使用纯化材料)成本高昂且治标不治本。

主动捕捉

才是根本之道。

二、IXE离子捕捉剂:以“离子交换”实现精准防御

东亚合成IXE的核心技术在于其独特的无机离子交换机制。它就像在树脂中布下了无数个“智能陷阱”,能精准锁定并固定有害离子。

电子元器件
  • 阴离子捕捉(如IXE-500, Bi系):材料表面的OH⁻基团与Cl⁻等进行交换,将游离的阴离子牢牢捕获。
  • 阳离子捕捉(如IXE-300, Sb系):材料中的H⁺或其他阳离子与Na⁺、Ag⁺等进行交换。
  • 双离子捕捉(如IXE-600, IXEPLAS系列):可同时捕捉阴、阳离子,提供全面保护,且适用pH范围更广。

其卓越的耐热性(最高600°C)

确保了在树脂高温固化过程中,捕捉剂自身性能稳定,不会分解失效。

三、纳米级利器:IXEPLAS为高密度封装而生

随着封装尺寸缩小、间距变窄,传统微米级添加剂可能影响填充流动性。东亚合成推出的

IXEPLAS系列

解决了这一痛点:

  • 亚微米粒径(0.2-0.5μm):分散性极佳,不会堵塞精细电路。
  • 高比表面积:用更少的添加量即可达到同等甚至更优的捕捉效果,性价比更高。
  • 对Cu²⁺、Ag⁺特效:特别适合当前主流的铜焊线、银浆电极封装工艺。

四、实战选型指南

您的挑战

推荐型号

理由

通用型IC封装,需要全面防护

IXE-600 / IXE-6107

双离子交换,标准型号,性价比高

使用银浆、铜线,重点防范迁移

IXE-300 / IXEPLAS-A2

对Ag⁺、Cu²⁺捕捉力强,A2为纳米级,分散性好

材料含氯或面临高温制程

IXE-500 / IXE-700F

IXE-500擅捕Cl⁻,IXE-700F耐热性极佳且环保

高密度、窄间距封装

IXEPLAS系列(A1, B1)

纳米粒子,确保流动性与可靠性兼得

五、结语与样品邀请

离子可靠性设计不容忽视。作为日本东亚合成株式会社的授权合作伙伴,

深圳市智美行科技有限公司

愿为您提供专业的技术支持和免费样品申请服务。我们的工程师可以协助您匹配最合适的型号,并进行应用验证。

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