深入剖析 FCB290N80 N-Channel SuperFET® II MOSFET

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描述

深入剖析 FCB290N80 N-Channel SuperFET® II MOSFET

一、前言

在电子工程领域,MOSFET 作为关键的功率器件,广泛应用于各类电源和开关电路中。今天我们要详细探讨的是 FCB290N80 N-Channel SuperFET® II MOSFET,它由 Fairchild Semiconductor 推出,如今 Fairchild 已成为 ON Semiconductor 的一部分。这款 MOSFET 具有诸多优异特性,适用于多种重要应用场景。

文件下载:FCB290N80-D.pdf

二、产品背景与编号变更

Fairchild Semiconductor 被 ON Semiconductor 整合后,部分 Fairchild 可订购的零件编号需要更改以满足 ON Semiconductor 的系统要求。由于 ON Semiconductor 的产品管理系统无法处理带有下划线()的零件命名,Fairchild 零件编号中的下划线()将更改为破折号(-)。大家可通过 ON Semiconductor 网站核实更新后的器件编号,最新的订购信息可在 www.onsemi.com 上找到。若有关于系统集成的问题,可发邮件至 Fairchild_questions@onsemi.com。

三、FCB290N80 主要特性

(一)基本参数

  • 电压与电流:该 MOSFET 的漏源电压(VDSS)为 800V,连续漏极电流(ID)在 (T{C}=25^{circ}C) 时为 17A,在 (T{C}=100^{circ}C) 时为 10.8A,脉冲漏极电流(IDM)可达 42A。
  • 电阻:静态漏源导通电阻 (R_{DS(on)}) 典型值为 0.259Ω,最大值为 0.290Ω。

(二)突出特点

  • 超低栅极电荷:典型的栅极总电荷 (Q{g(tot)}) 在 (V{DS}=640V)、(I{D}=17A)、(V{GS}=10V) 时为 58nC,这有助于降低开关损耗,提高开关速度。
  • 低输出电容:有效输出电容 (C_{oss(eff.)}) 典型值为 240pF,能减少开关过程中的能量损耗,提升效率。
  • 低 (E_{oss}):典型的 (E_{oss}) 在 400V 时为 5.4μJ,可降低开关过程中的电压尖峰和电磁干扰。
  • 雪崩测试:经过 100% 雪崩测试,具有良好的雪崩能量耐量,能在恶劣环境下稳定工作。
  • 符合 RoHS 标准:环保特性使其符合相关环保法规要求。

四、应用领域

(一)AC - DC 电源

FCB290N80 的高电压承受能力和低导通电阻特性,使其在 AC - DC 电源中能够有效降低传导损耗,提高电源效率。同时,其快速的开关性能有助于减少开关损耗,提升电源的整体性能。

(二)LED 照明

在 LED 照明应用中,该 MOSFET 的低栅极电荷和低输出电容特性,可实现高效的开关控制,减少能量损耗,提高 LED 灯具的能效和稳定性。

五、绝对最大额定值

参数 符号 FCB290N80 单位
漏源电压 VDSS 800 V
栅源电压 - DC VGSS ±20 V
栅源电压 - AC (f>1Hz) VGSS ±30 V
连续漏极电流 ((T_{C}=25^{circ}C)) ID 17 A
连续漏极电流 ((T_{C}=100^{circ}C)) ID 10.8 A
脉冲漏极电流 IDM 42 A
单脉冲雪崩能量 EAS 882 mJ
雪崩电流 IAR 3.4 A
重复雪崩能量 EAR 2.12 mJ
功率耗散 ((T_{C}=25^{circ}C)) PD 212 W
功率耗散降额系数(高于 (25^{circ}C)) / 1.7 W/°C
工作和存储温度范围 TJ, TSTG -55 至 +150 °C
焊接时最大引脚温度(距外壳 1/8”,5 秒) TL 300 °C

这些绝对最大额定值为工程师在设计电路时提供了安全边界,确保 MOSFET 在正常工作范围内不会因过压、过流等因素损坏。

六、电气特性

(一)关断特性

  • 漏源击穿电压((BV_{DSS})):在 (V{GS}=0V)、(I{D}=1mA)、(T_{J}=25^{circ}C) 时为 800V,击穿电压温度系数为 0.85V/°C。
  • 零栅压漏极电流((I_{DSS})):在 (V{DS}=800V)、(V{GS}=0V) 时最大值为 25μA,在 (V{DS}=640V)、(V{GS}=0V)、(T_{C}=125^{circ}C) 时最大值为 250μA。
  • 栅极 - 体泄漏电流((I_{GSS})):在 (V{GS}=±20V)、(V{DS}=0V) 时最大值为 ±10μA。

(二)导通特性

  • 栅极阈值电压((V_{GS(th)})):在 (V{GS}=V{DS})、(I_{D}=1.7mA) 时,范围为 2.5 - 4.5V。
  • 静态漏源导通电阻((R_{DS(on)})):在 (V{GS}=10V)、(I{D}=8.5A) 时,典型值为 0.259Ω,最大值为 0.290Ω。
  • 正向跨导((g_{FS})):在 (V{DS}=20V)、(I{D}=8.5A) 时典型值为 20S。

(三)动态特性

  • 输入电容((C_{iss})):在 (V{DS}=100V)、(V{GS}=0V)、(f = 1MHz) 时,范围为 2410 - 3205pF。
  • 输出电容((C_{oss})):不同条件下有不同数值,如在某些条件下为 75 - 100pF,在 (V{DS}=480V)、(V{GS}=0V)、(f = 1MHz) 时为 35pF。
  • 反向传输电容((C_{rss})):典型值为 0.36pF。
  • 有效输出电容((C_{oss(eff.)})):在 (V{DS}=0V) 至 480V、(V{GS}=0V) 时典型值为 240pF。
  • 总栅极电荷((Q_{g(tot)})):在 (V{DS}=640V)、(I{D}=17A)、(V_{GS}=10V) 时,典型值为 58nC,最大值为 75nC。
  • 栅源栅极电荷((Q_{gs})):典型值为 11nC。
  • 栅漏“米勒”电荷((Q_{gd})):典型值为 22nC。
  • 等效串联电阻((ESR)):在 (f = 1MHz) 时典型值为 0.75Ω。

(四)开关特性

  • 导通延迟时间((t_{d(on)})):范围为 22 - 54ns。
  • 导通上升时间((t_{r})):在 (V{DD}=400V)、(I{D}=17A) 时,范围为 14 - 38ns。
  • 关断延迟时间((t_{d(off)})):在 (V{Gs}=10V)、(R{g}=4.7) 时,范围为 61 - 132ns。
  • 关断下降时间((t_{f})):范围为 2.6 - 15ns。

(五)漏源二极管特性

  • 最大连续漏源二极管正向电流((I_{S})):为 17A。
  • 最大脉冲漏源二极管正向电流((I_{SM})):为 42A。
  • 漏源二极管正向电压((V_{SD})):在 (V{GS}=0V)、(I{SD}=17A) 时最大值为 1.2V。
  • 反向恢复时间((t_{rr})):在 (V{GS}=0V)、(I{SD}=17A)、(dI_{F}/dt = 100A/μs) 时为 511ns。
  • 反向恢复电荷((Q_{rr})):典型值为 12μC。

七、典型性能特性

文档中给出了多个典型性能特性曲线,如导通区域特性、转移特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压和导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随壳温的变化、瞬态热响应曲线等。这些曲线直观地展示了 MOSFET 在不同工作条件下的性能表现,工程师可根据实际应用需求参考这些曲线进行电路设计和优化。

八、测试电路与波形

文档还提供了多种测试电路和波形图,包括栅极电荷测试电路、电阻性开关测试电路、非钳位电感开关测试电路、峰值二极管恢复 dv/dt 测试电路等。这些测试电路和波形图有助于工程师理解 MOSFET 在不同测试条件下的工作原理和性能表现,为实际测试和验证提供了参考。

九、总结

FCB290N80 N-Channel SuperFET® II MOSFET 凭借其超低栅极电荷、低输出电容、低 (E_{oss}) 等优异特性,以及在 AC - DC 电源和 LED 照明等领域的广泛适用性,成为电子工程师在功率开关电路设计中的理想选择。但在使用过程中,工程师需严格遵循其绝对最大额定值和电气特性要求,参考典型性能特性曲线和测试电路进行合理设计,以确保电路的可靠性和稳定性。大家在实际应用中是否遇到过类似 MOSFET 的特殊问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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