深度剖析CSD22204W -8 V P-Channel NexFET™ Power MOSFET

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深度剖析CSD22204W -8 V P-Channel NexFET™ Power MOSFET

电子工程师在设计电路时,功率MOSFET的选择至关重要,它直接影响着电路的性能和稳定性。今天咱们就来深入剖析德州仪器(TI)的CSD22204W -8 V P - Channel NexFET™ Power MOSFET,看看它有哪些独特之处。

文件下载:csd22204w.pdf

一、器件概述

1.1 产品特性

CSD22204W具有诸多出色的特性:

  • 低电阻与小尺寸:采用1.5 mm × 1.5 mm的小尺寸封装,同时具备低导通电阻,在有限的空间内实现高效的功率转换。
  • 环保设计:符合无铅(Pb Free)、RoHS标准,并且无卤(Halogen Free),满足环保要求。
  • 静电防护:具备栅极ESD保护,防止静电对MOSFET的损坏,提高了器件的可靠性。
  • 电压钳位:拥有栅 - 源电压钳位功能,能有效保护器件在异常电压情况下的安全。

1.2 应用场景

这款MOSFET适用于多种应用,如电池管理、电池保护以及负载开关应用等。在电池供电的设备中,其低导通电阻和小尺寸特性能够有效降低功耗,延长电池续航时间,同时节省电路板空间。

二、器件规格

2.1 绝对最大额定值

参数 数值 单位
漏 - 源电压 (V_{DS}) - 8 V
栅 - 源电压 (V_{GS}) - 6 V
连续漏极电流 (I_{D})(在105ºC工作温度下) - 5 A
脉冲漏极电流 (I{D})(典型 (R{BJA}=75^{circ} C / W) ,脉冲宽度100 us,占空比1%) - 80 A
功率耗散 (P_{D}) 1.7 W
工作结温及存储温度范围 (T{J}, T{stg}) - 55 to 150 °C

2.2 电气特性

静态特性

  • 漏 - 源击穿电压 (BV_{DSS}):在 (V{GS} = 0 V),(I{DS} = –250 μA) 时为 - 8 V。
  • 栅 - 源击穿电压 (BV_{GSS}):在 (V{DS} = 0 V),(I{G} = –5 μA) 时为 - 6 V。
  • 漏 - 源泄漏电流 (I_{DSS}):在 (V{GS} = 0 V),(V{DS} = –6.4 V) 时最大为 - 1 μA。
  • 栅 - 源泄漏电流 (I_{GSS}):在 (V{DS} = 0 V),(V{GS} = –6 V) 时最大为 - 4 μA。
  • 栅 - 源阈值电压 (V_{GS(th)}):在 (V{DS} = V{GS}),(I_{DS} = –250 μA) 时,典型值为 - 0.7 V,范围在 - 0.45 V 至 - 0.95 V。
  • 漏 - 源导通电阻 (R_{DS(on)}):当 (V{GS} = –2.5 V),(I{DS} = –2 A) 时,典型值为11.5 mΩ,最大值为14.0 mΩ;当 (V{GS} = –4.5 V),(I{DS} = –2 A) 时,典型值为8.2 mΩ,最大值为9.9 mΩ。
  • 跨导 (g_{fs}):在 (V{DS} = –0.8 V),(I{DS} = –2 A) 时,典型值为18 S。

动态特性

  • 输入电容 (C_{ISS}):在 (V{GS} = 0 V),(V{DS} = –4 V),(ƒ = 1 MHz) 时,典型值为870 pF,最大值为1130 pF。
  • 输出电容 (C_{OSS}):典型值为445 pF,最大值为580 pF。
  • 反向传输电容 (C_{RSS}):典型值为204 pF,最大值为265 pF。
  • 串联栅电阻 (R_{G}):最大值为300 Ω。
  • 总栅极电荷 (Q_{g})( - 4.5 V):在 (V{DS} = –4 V),(I{D} = –2 A) 时,典型值为18.9 nC,最大值为24.6 nC。
  • 栅 - 漏极电荷 (Q_{gd}):典型值为4.2 nC。
  • 栅 - 源极电荷 (Q_{gs}):典型值为3.2 nC。
  • 阈值电压下的栅极电荷 (Q_{g(th)}):典型值为0.7 nC。
  • 输出电荷 (Q_{OSS}):在 (V{DS} = –4 V),(V{GS} = 0 V) 时,典型值为3.1 nC。
  • 导通延迟时间 (t_{d(on)}):在 (V{DS} = –4 V),(V{GS} = –4.5 V),(I{DS} = –2 A),(R{G} = 0 Ω) 时,典型值为58 ns。
  • 上升时间 (t_{r}):典型值为600 ns。
  • 关断延迟时间 (t_{d(off)}):典型值为3450 ns。
  • 下降时间 (t_{f}):典型值为2290 ns。

二极管特性

二极管正向电压 (V{SD}):在 (I{DS} = –2 A),(V_{GS} = 0 V) 时,典型值为 - 0.7 V,最大值为 - 1.0 V。

2.3 热特性

  • 结 - 环境热阻 (R_{theta JA})
    • 当器件安装在具有1平方英寸(6.45 (cm^2))、2 oz.(0.071 mm厚)铜的FR4材料上时,典型值为230 °C/W。
    • 当器件安装在具有最小铜安装面积的FR4材料上时,典型值为75 °C/W。

三、典型MOSFET特性曲线

文档中给出了多个典型特性曲线,这些曲线能帮助我们更好地理解CSD22204W在不同工作条件下的性能。

  • 饱和特性曲线:展示了不同 (V{GS}) 下,漏极电流 (I{D}) 与漏 - 源电压 (V_{DS}) 的关系。
  • 传输特性曲线:体现了在不同结温下,漏极电流 (I{D}) 与栅 - 源电压 (V{GS}) 的变化规律。
  • 栅极电荷曲线:描述了栅极电荷 (Q{g}) 与栅 - 源电压 (V{GS}) 的关系。
  • 导通电阻与栅 - 源电压曲线:帮助我们了解 (R{DS(on)}) 随 (V{GS}) 的变化情况。
  • 阈值电压与温度曲线:显示了阈值电压 (V_{GS(th)}) 随温度的变化趋势。

四、机械、封装与订购信息

4.1 封装尺寸

CSD22204W采用1.5 mm × 1.5 mm的封装,其引脚定义明确,方便进行电路板布局设计。引脚包括栅极(Gate)、源极(Source)和漏极(Drain),具体分布为A1为栅极,A2、A3、B1、B2、B3为源极,C1、C2、C3为漏极。

4.2 推荐焊盘布局

文档提供了推荐的焊盘布局尺寸,工程师在进行PCB设计时,按照这些尺寸进行布局可以确保器件的良好焊接和性能。

4.3 编带和卷盘信息

详细说明了编带和卷盘的尺寸、公差、材料等信息,如材料为黑色静电耗散聚苯乙烯,厚度为0.30 ± 0.05 mm等。

4.4 订购信息

提供了两种可订购的器件型号:CSD22204W和CSD22204WT,它们的包装数量、包装类型等信息有所不同。CSD22204W为3000个/7 - Inch Reel,采用1.5 mm × 1.5 mm封装;CSD22204WT为250个/7 - Inch Reel,采用Wafer BGA Package封装。

五、注意事项

5.1 商标信息

NexFET是德州仪器的商标,其他商标归各自所有者所有。

5.2 静电放电注意

该器件内置的ESD保护有限,在存储或处理过程中,应将引脚短路在一起或放置在导电泡沫中,以防止MOS栅极受到静电损坏。

5.3 术语表

可参考SLYZ022 - TI Glossary了解相关术语、首字母缩写和定义。

综上所述,CSD22204W -8 V P - Channel NexFET™ Power MOSFET凭借其出色的特性和性能,在电池供电的空间受限应用中具有很大的优势。电子工程师在设计相关电路时,可以根据具体需求,结合其规格参数和特性曲线,充分发挥该器件的性能。大家在使用这款MOSFET时,有没有遇到过什么问题或者有什么独特的应用经验呢?欢迎在评论区分享。

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